漏电流测试电路检测实验

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述：通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。

血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途：与适配试剂配合使用，用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。

血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例：血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血脂监测仪、血糖血酮仪、血酮体测试仪、葡萄糖/乳酸分析仪、尿酸/血糖分析仪、血脂/血糖分析仪、血糖/胆固醇两用检测仪、血糖/胆固醇/甘油三酯/乳酸分析仪、血脂分析仪

血糖及血糖相关参数分析仪器管理类别：Ⅱ

血糖及血糖相关参数分析仪器相关指导原则：
1、血糖仪注册技术审查指导原则
2、自测用血糖监测系统注册申报资料指导原则

血糖及血糖相关参数分析仪器相关标准：
1、YY/T 1549-2017 生化分析仪用校准物下载2、YY/T 1662-2019 生化分析仪用质控物

血糖及血糖相关参数分析仪器相关检测项目：
1 . 外观《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
2 . 血糖仪和血糖试条测量重复性《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
3 . 血糖仪和血糖试条系统准确度《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
4 . 红细胞压积《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
5 . 血糖试条批间差《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
6 . 质控物质《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
7 . 血糖仪环境试验《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》
8 . 血糖仪安全要求《体外诊断检验系统自测用血糖检测系统通用技术条件： GB/T 19634-2021》

收起百科↑ 最近更新：2023年08月07日

搜索条件所在地区: 所属类别:

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：输出漏电流Iol 检测样品：半导体集成电路（稳压器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

检测项：输出漏电流Iol 检测样品：半导体集成电路（稳压器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

检测项：阈值电流Ith 检测样品：微电路模块标准：1、SJ 20668-1998 微电路模块总规范 2、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法

机构所在地：河北省石家庄市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：反向漏电流检测样品：二极管标准：GB/T4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管

检测项：反向漏电流检测样品：二极管标准：GB/T4023-1997 半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管

检测项：输入电流检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

机构所在地：湖北省宜昌市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
上海华东电信研究院

检测项：对地漏电流测量试验检测样品：电信终端设备(安全) 标准：YD/T 965-1998《电信终端设备的安全要求和试验方法》

检测项：接触电流和保护导体电流检测样品：信息技术设备(安全) 标准：GB4943.1-2011 《信息技术设备的安全》

检测项：接触电流和保护导体电流检测样品：信息技术设备(安全) 标准：EN 60950-1:2006/AC:2011 《信息技术设备的安全第1部分：通用要求》 AS/NZS 60950.1:2011 including amendments 1,2 & 3 《信息技术设备的安全第1部分：通用要求》

机构所在地：上海市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
广东产品质量监督检验研究院认证与测量工程部

检测项：漏电流检测样品：漏电保护器测试仪标准：漏电保护器测试仪检测规范

检测项：电流检测样品：漏电保护器测试仪标准：电压降测试仪检测规范

检测项：时间检测样品：漏电保护器测试仪标准：CEST/CAL/GF235-2005 漏电保护器测试仪检测规范

机构所在地：广东省广州市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：正向栅源漏电流Igssf 检测样品：光耦合器标准：1.GB/T15651.3-2003半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 2.GB12565-1990半导体器件光电子器件分规范

检测项：反向栅源漏电流Igssr 检测样品：光耦合器标准：1.GB/T15651.3-2003半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 2.GB12565-1990半导体器件光电子器件分规范

检测项：反向漏电流IR 检测样品：二极管标准：1.GB/T 4023-1997半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管； 2.GB/T 6571-1995半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管；

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
深圳中航技术检测所

检测项：外观及结构检测样品：泄漏电流测试仪标准：SJ/T 11383-2008泄漏电流测量仪通用规范

检测项：泄漏电流检测样品：耐压测试仪标准：SJ/T11384-2008耐电压测试仪通用规范

检测项：泄漏电流(安全性能) 检测样品：接地导通电阻测试仪标准：SJ/T 11386-2008接地导通电阻测试仪通用规范

机构所在地：广东省深圳市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
北京尊冠科技有限公司

检测项：截止态漏极漏电流 ID（Off）检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路第 2 部分数字集成电路》

检测项：截止态源极漏电流 IS（off）检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路第 2 部分数字集成电路》

检测项：导通态漏电流IDS（on）检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路第 2 部分数字集成电路》

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
台表科技（苏州）电子有限公司实验室

检测项：泄漏电流测试检测样品：电子产品标准：GB/T 12113-2003 接触电流和保护导体电流的测量方法

检测项：泄漏电流测试检测样品：电气设备标准：IEC 60990:1999 EN 60990:1999 接触电流和保护导体电流的测量方法

检测项：漏电起痕测试检测样品：非金属材料（除玻璃和陶瓷）标准：GB/T 4207-2003 固体绝缘材料在潮湿条件下相比电痕化指数和耐电痕化指数的测定方法

机构所在地：江苏省吴江市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国测试技术研究院

检测项：泄漏电流检测样品：生物安全柜标准：JG 170-2005 生物安全柜

检测项：泄漏电流检测样品：洁净室标准：JG 170-2005 生物安全柜

检测项：泄漏电流检测样品：滤光片标准：《滤光玻璃测试方法》 GB/T 15489.1-1995~15489.8-1995 《滤光玻璃》 GB/T 15488-1995

机构所在地：四川省成都市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
湖南航天管理局计量检测中心

检测项：输入电流II 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：电源电流ICC 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

机构所在地：湖南省长沙市更多相关信息>>

我要咨询联系我们

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

血糖及血糖相关参数分析仪器

简介

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

上海华东电信研究院

广东产品质量监督检验研究院认证与测量工程部

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

深圳中航技术检测所

北京尊冠科技有限公司

台表科技（苏州）电子有限公司实验室

中国测试技术研究院

湖南航天管理局计量检测中心

热点资讯MORE>

最新资讯MORE>

客户服务