苏州达方电子有限公司检测中心

检测项：高度模拟 检测样品：锂电池 标准：联合国《关于危险货物运输的建议书 试验和标准手册》ST/SG/AC.10/11/Rev.5

检测项：热测试 检测样品：锂电池 标准：联合国《关于危险货物运输的建议书 试验和标准手册》ST/SG/AC.10/11/Rev.5

检测项：振动 检测样品：锂电池 标准：联合国《关于危险货物运输的建议书 试验和标准手册》ST/SG/AC.10/11/Rev.5

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>

上海科勒电子科技有限公司机电中心实验室

检测项：输入功率和电流 检测样品：电子坐便器安全 标准：家用和类似用途的电器安全-坐便器的特殊要求》 GB4706.53-2008 家用和类似用途电器的安全通用要求 GB4706.1-2005

检测项：泄漏电流和电气强度 检测样品：电子坐便器安全 标准：家用和类似用途的电器安全-坐便器的特殊要求》 GB4706.53-2008 家用和类似用途电器的安全通用要求 GB4706.1-2005

检测项：工作温度下的泄漏电流和电气强度 检测样品：电子坐便器安全 标准：家用和类似用途的电器安全-坐便器的特殊要求》 GB4706.53-2008 家用和类似用途电器的安全通用要求 GB4706.1-2005

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

西安芯派电子科技有限公司测试应用中心

检测项：漏极反向电流 检测样品：功率金属氧化物场效应管 标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750E 2006 方法3415.1

检测项：栅极漏电流 检测样品：小型开关电源 标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750E 2006 方法3411.1

检测项：漏极反向电流 检测样品：功率金属氧化物场效应管 标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 方法3415.1

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

苏州中来光伏新材股份有限公司光伏薄膜实验室

检测项：恒定湿热试验 检测样品：太阳电池组件用绝缘背板 标准：《地面用晶体硅光伏组件——设计鉴定和定型》 IEC 61215-2005

机构所在地：江苏省常熟市 更多相关信息>>

深圳普瑞赛思检测技术有限公司

检测项：输出电流限制 检测样品：移动电话用可充电电池 标准：IEEE关于移动电话用可充电电池标准 IEEE Std 1725-2011

检测项：电池过电流保护要求 检测样品：移动电话用可充电电池 标准：IEEE关于移动电话用可充电电池标准 IEEE Std 1725-2011

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

深圳市斯派克光电科技有限公司实验室

检测项：电源电流 检测样品：普通照明自镇流LED灯 标准：普通照明用50V以上自镇流LED灯　安全要求 GB 24906-2010 IEC 62560:2011 EN 62560:2012

检测项：输出电压和电流 检测样品：普通照明自镇流LED灯 标准：普通照明用50V以上自镇流LED灯　安全要求 GB 24906-2010 IEC 62560:2011 EN 62560:2012

检测项：基本电性能和电流谐波 检测样品：灯具光度 标准：普通照明用LED模块测试方法 GB/T 24824-2009 普通照明用LED模块性能要求 GB/T 24823-2009 IEC/PAS 62717-2011

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

深圳市思达仪表有限公司检测中心

检测项：电流影响 检测样品：0.2级和0.5级静止式电能表 标准：ANSI C12.1-2008 电能表的电计量规范

检测项：电流回路的等效性 检测样品：0.2级和0.5级静止式电能表 标准：ANSI C12.1-2008 电能表的电计量规范

检测项：短时过电流影响试验 检测样品：1级和2级静止式交流有功电能表 标准：GB/T17215.321-2008 交流电测量设备 特殊要求 第21部分：静止式有功电能表（1级和2级）IEC62053-21:2003 交流电测量设备 特殊要求 第21部分：静止式有功电能表（1级和2级）

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

江苏中天科技股份有限公司检测中心

检测项：部分项目 检测样品：通信用室外光缆 标准：GB/T 7424.1-2003 光缆总规范 第1部分：总则

检测项：部分项目 检测样品：通信用室外光缆 标准：GB/T 7424.2-2008 光缆总规范 第2部分：光缆基本试验方法

检测项：部分项目 检测样品：沿电力线路敷设的光缆 标准：DL/T 832-2003 光纤复合架空地线

机构所在地：江苏省南通市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输出低电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出高电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：低三态输出电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

联想移动通信科技有限公司实验室

检测项：充电器要求 检测样品：移动通信手持机充电器 标准：移动通信手持机充电器及接口技术要求和试验方法 YD/T1591-2009

机构所在地：福建省厦门市 更多相关信息>>