杭州照相机械研究所照相机械行业标准质检中心

检测项：部分项目 检测样品：照相手机 标准：数字移动终端图像及视频传输特性技术要求和测试方法YD/T1607-2007

机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>

浙江省电子信息产品检验所

检测项：系统时间同步 检测样品：防火墙 标准：信息安全技术 防火墙技术要求和测试评价方法 GB/T 20281-2006

检测项：温度恢复时间 检测样品：信息网络 系统 标准：基于以太网技术的局域网系统验收测评规范 GB/T 21671-2008 智能建筑工程质量验收规范 GB 50339-2003

检测项：时间戳 检测样品：信息系统安全测评 标准：信息技术 安全技术 信息技术安全性评估准则 第1部分： 简介和一般模型 GB/T 18336.1-2008 信息技术 安全技术 信息技术安全性评估准则 第2部分： 安全功能要求 GB/T 18336.2-2008

机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>

国家烟草质量监督检验中心

检测项：褪色浸泡时间 检测样品：烟用接装纸 标准：烟用接装纸YC 171-2009

检测项：褪色浸泡时间 检测样品：烟用接装纸原纸 标准：烟用接装纸原纸YC 170-2009

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

天津市计量监督检测科学研究院（天津市电磁兼容检测中心）

检测项：部分参数 检测样品：工业热电偶 标准：工业热电偶 技术条件 JB/T9238-1999

检测项：部分参数 检测样品：工业铂热电阻 标准：工业铂热电阻技术条件及分度表 JB/T8622-1997

机构所在地：天津市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：上升/下降时间 检测样品：二极管 标准：GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管

检测项：地址取数时间tAA 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器 标准：SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理

检测项：片选取数时间tAC 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

天津市电子仪表实验所

检测项：部分参数 检测样品：熔断体 标准：延时型管状熔断体 SJ/T 2955-1988

检测项：衰减时间 检测样品：数字电子计算机用CRT显示设备 标准：数字电子计算机用阴极射线管显示设备通用技术条件 GB/T 9313-1995

检测项：高温试验 检测样品：电工电子产品环境试验 标准：设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案 GB 5080.7-1986 IEC 605-7:1978

机构所在地：天津市 更多相关信息>>

佛山市质量计量监督检测中心(检测实验室)

检测项：部分参数 检测样品：面包用小麦粉 标准：《面包用小麦粉》 LS/T 3201-1993

检测项：部分参数 检测样品：面条用小麦粉 标准：《面条用小麦粉》 LS/T 3202-1993

检测项：部分参数 检测样品：饺子用小麦粉 标准：《饺子用小麦粉》 LS/T 3203-1993

机构所在地：广东省佛山市 更多相关信息>>

北京市劳动保护科学研究所劳动保护用品检验实验室

检测项：镍释放** 检测样品：纺织品 和皮革 标准：《由直接和长时间与皮肤接触的产品中镍释放的参考试验 方法》 EN 1811：2011

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

长春中机检测有限公司

检测项：*力保持时间 检测样品：布氏硬度计 标准：金属材料 布氏硬度试验 第2部分：硬度计的检验与校准 GB/T 231.2-2012 ISO 6506-2：2005

检测项：*试验循环时间 检测样品：塑料球压痕硬度计 标准：塑料球压痕硬度计 技术条件 JB/T 7410-2010

检测项：*试验循环时间 检测样品：肖氏硬度计 标准：D型肖氏硬度计 技术条件 JB/T 8284-1999

机构所在地：吉林省长春市 更多相关信息>>

中国电信集团广东省电信公司艾特实验室

检测项：负载效应恢复时间 检测样品：通信用高频开关整流器 标准：通信用高频开关整流器 YD/T 731-2008

检测项：恢复时间 检测样品：光缆接头盒 标准：光缆接头盒 第1部分：室外光缆接头盒 YD/T 814.1-2013

检测项：冲击恢复时间 检测样品：通信设备过电压保护用半导体管 标准：通信设备过电压保护用半导体管 YD/T 940-1999

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>