华东光电集成器件研究所计量测试中心

检测项：老炼 检测样品：电子元器件 标准：电子及电气元件试验方法　 GJB360B-2009方法107

检测项：老炼 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法和程序　 GJB548B-2005方法1010.1

检测项：老炼 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法和程序 　GJB548A方法1010A

机构所在地：安徽省蚌埠市 更多相关信息>>

普德光伏技术（苏州）有限公司

检测项：光老炼 检测样品：塑料 标准：IEC 61646:2008 地面用薄膜光伏组件设计鉴定和定型

检测项：光伏阵列开路电压 检测样品：并网光伏发电系统 标准：IEC62446：2009并网光伏发电系统文件、试运行测试和检查的基本要求 CGC/GF003.1：2009并网光伏发电系统工程验收基本要求

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>

宁夏新能源研究院（有限公司）新能源实验检测中心

检测项：光老炼试验 检测样品：地面用薄 膜光伏组件 标准：地面用薄膜光伏组件设计鉴定和定型 IEC 61646:2008

检测项：光老炼试验 检测样品：光伏 组件 标准：光伏（PV）组件安全鉴定-第 2 部分：试验要求 IEC 61730–2:2004

检测项：脉冲电压试验 检测样品：光伏 组件 标准：光伏（PV）组件安全鉴定-第 2 部分：试验要求 IEC 61730–2:2004

机构所在地：宁夏回族自治区银川市 更多相关信息>>

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：老炼试验 检测样品：军用及民用机械、电子类产品 标准：军用设备环境试验方法 浸渍试验 GJB150.14-1986

检测项：老炼试验 检测样品：军用及民用机械、电子类产品 标准：军用通信设备通用规范 GJB367A-2001

检测项：老炼试验 检测样品：军用及民用机械、电子类产品 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法1015.1

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：高温电老炼 检测样品：电容器 标准：有可靠性指标的铝电解电容器总规范GJB603-1988 3.9

检测项：高温电老炼 检测样品：电容器 标准：电子设备用固定电容器第1部分:总规范GB/T2693-2001 2.2.24

检测项：高温电老炼 检测样品：电容器 标准：电子及电气元件测试方法GJB360A-1996 方法108

机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>

上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：老炼试验 检测样品：元器件 筛选 标准：《微电子器件试验方法和程序》 GJB 548B-2005

检测项：输入箝位电压 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

检测项：输入失调电压 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

国网计量中心

检测项：老炼 检测样品：继电器 标准：控制用电磁继电器可靠性试验通则 GB/T15510-2008 电子式电能表用磁保持继电器 JB/T10923-2010

检测项：地电压引起的改变量 检测样品：高电压分压器测量系统 标准：高电压测试设备通用技术条件第1部分：高电压分压器测量系统 DL/T 846.1-2004

检测项：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 检测样品：厂站采集终端 标准：《电磁兼容电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验》 GB/T 17626.11—2008

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：1038 老炼（二极管、整流管、稳压管） 检测样品：半导体器件 标准：GJB128A-97 《半导体分立器件试验方法》

检测项：1039 老炼（晶体管） 检测样品：半导体器件 标准：GJB128A-97 《半导体分立器件试验方法》

检测项：老炼试验 检测样品：晶体振荡器 标准：GJB 1648-93 《晶体振荡器总规范》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：电功率老炼 检测样品：元器件筛选 标准：GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法 GJB548B-2005/GJB548A-1996微电子器件试验方法和程序 GJB360B-2009/GJB360A-1996 电子及电气元件试验方法 GJB150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方

检测项：滞后电压ΔVT 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：老炼 检测样品：半导体集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第11部分：半导体集成电路分规范 （不包括混合电路） GB/T12750-2006

检测项：V/F电源电压灵敏度 检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理　GB/T14114-1993

检测项：截止态漏极漏电流 检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理　GB/T14114-1993

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>