电压调整器检测实验

检测项：失调电压Vos 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

检测项：共模输入电压Vicm 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

检测项：开环电压增益检测样品：模拟集成电路标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

检测项：滞后电压ΔVT 检测样品：模拟/混合集成电路标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路第3部分模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：模拟/混合集成电路标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路第3部分模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：模拟/混合集成电路标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路第3部分模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：输出电压VO 检测样品：半导体集成电路（稳压器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

检测项：电压调整率SV 检测样品：半导体集成电路（稳压器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

检测项：低电平输出电压Vol 检测样品：半导体集成电路（稳压器）标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路（稳压器）标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范

检测项：正电源电压抑制比KSVR+ 检测样品：半导体集成电路（稳压器）标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范

检测项：负电源电压抑制比KSVR- 检测样品：半导体集成电路（稳压器）标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件第10部分：分立器件和集成电路总规范

检测项：电压量（模拟）检测样品：集成电路标准：半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理SJ/T10805-2000 半导体集成电路模拟开关测试方法的基

检测项：电流量（模拟）检测样品：集成电路标准：半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理SJ/T10805-2000 半导体集成电路模拟开关测试方法的基

检测项：频率检测样品：集成电路标准：半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理SJ/T10805-2000 半导体集成电路模拟开关测试方法的基