中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：电容量 检测样品：微电子器件 标准：GJB548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》

检测项：损耗(Q) 检测样品：微电子器件 标准：GJB548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》

检测项：气密性 检测样品：微电子器件 标准：GJB548B-2005 《微电子器件试验方法和程序》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：外部目检 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：探针测试 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

检测项：内部目检 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

检测项：附加电气试验 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：方法301 介质耐电压试验 检测样品：微电子器件试验 标准：GJB 548B-2005 微电子器件试验

检测项：方法302 绝缘电阻测试 检测样品：微电子器件试验 标准：GJB 548B-2005 微电子器件试验

检测项：稳定性烘焙 检测样品：微电子器件试验 标准：GJB 548B-2005 微电子器件试验

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：最高额定工作 温度下的静态试验 检测样品：半导体 集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996　 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005　 微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006

检测项：25℃下的 动态试验 检测样品：半导体 集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996　 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005　 微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006

检测项：最高额定工作 温度下的动态试验 检测样品：半导体 集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996　 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005　 微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006

机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>

上海华碧检测技术有限公司

检测项： 检测样品：电子器件 标准：

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

广州广电计量检测股份有限公司

检测项：浸渍 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 微电路试验方法 MIL-STD-883H-2010

检测项：耐湿 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 微电路试验方法 MIL-STD-883H-2010

检测项：寿命 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 微电路试验方法 MIL-STD-883H-2010

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

亚旭电子科技（江苏）有限公司零件工程实验室

检测项：阈值试验 检测样品：集成电路/微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

检测项：外壳绝缘 检测样品：集成电路/微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

检测项：两个或三个引出端之间电测试 检测样品：集成电路/微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>

中国科学院半导体研究所元器件检测中心

检测项：湿度 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：微电子器件试验方法 方法1008.1稳定性烘焙GJB548B-2005

检测项：冲击 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：微电子器件试验方法 方法1004.1耐湿GJB548B-2005

检测项：振动试验 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：微电子器件试验方法 方法2002.1机械冲击 GJB548B-2005

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：相关色温(TCP) 检测样品：光耦合器 标准：1、GB 12565－1990 半导体器件光电子器件分规范 2、GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法

检测项：一般显色 指数(Ra) 检测样品：光耦合器 标准：1、GB 12565－1990 半导体器件光电子器件分规范 2、GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法

检测项：道路路面亮度总均匀度（U0） 检测样品：光耦合器 标准：1、GB 12565－1990 半导体器件光电子器件分规范 2、GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>