中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：输入失调电压VOS 检测样品：半导体集成电路 （运算放大器、电压比较器） 标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分 总则

检测项：输入失调电压VOS 检测样品：半导体集成电路 （运算放大器、电压比较器） 标准：1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分 总则

检测项：防止意外接触带电部件的措施 检测样品：LED模块用直流或交流电子控制装置 标准：GB/T 24825-2009 IEC 62384:2006 LED模块用直流或交流电子控制装置 性能要求

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：输入失调电压 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

检测项：输入失调电压 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

检测项：正向直流电压 检测样品：二极管 标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：输入失调电压 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988

检测项：输入失调电压 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988

检测项：直流电阻 检测样品：电磁继电器 标准：（1）电磁继电器通用规范GJB 1042A－2002

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：失调电压Vos 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>

北京市计量检测科学研究院

检测项：直流电压 检测样品：直流数字电压表 标准：《直流数字电压表及直流模数变换器》 GB/T 14913-1994

检测项：直流电压 检测样品：直流数字电压表 标准：直流数字电压表及直流模数变换器 GB/T 14913-1994

检测项：反馈电压及电流 检测样品：直流数字电压表 标准：《直流数字电压表及直流模数变换器》 GB/T 14913-1994

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中兴通讯股份有限公司材料实验室

检测项：尺寸 检测样品：通信用直流-直流模块电源 标准：通信用直流-直流模块电源YD/T 1376-2005

检测项：衰减量 检测样品：通信用直流-直流模块电源 标准：通信用直流-直流模块电源YD/T 1376-2005

检测项：回波损耗 检测样品：通信用直流-直流模块电源 标准：通信用直流-直流模块电源YD/T 1376-2005

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

深圳先进储能材料国家工程研究中心有限公司检测中心

检测项：绝缘电阻 检测样品：直流-直流模块电源 标准：通信用直流-直流模块电源 YD/T 1376-2005

检测项：稳压精度 检测样品：直流-直流模块电源 标准：通信用直流-直流模块电源 YD/T 1376-2005

检测项：转换效率 检测样品：直流-直流模块电源 标准：通信用直流-直流模块电源 YD/T 1376-2005

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

常州博瑞电力自动化设备有限公司检测中心

检测项：直流干/湿耐受电压 检测样品：直流电压测量装置 标准：GB/T26217-2010 高压直流输电系统直流电压测量装置

检测项：直流干/湿耐受电压 检测样品：直流电压测量装置 标准：GB/T26217-2010 高压直流输电系统直流电压测量装置

检测项：直流电压分压比 检测样品：直流电压测量装置 标准：GB/T26217-2010 高压直流输电系统直流电压测量装置

机构所在地：江苏省常州市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：输入失调电压 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：输入失调电压 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：直流电阻 检测样品：元器件筛选 标准：GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：半导体集成电路（运算放大器） 标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路 运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：半导体集成电路（电压比较器） 标准：1.SJ/T10805-2000半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路

检测项：直流电阻R 检测样品：二极管 标准：1.GB/T 4023-1997半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管； 2.GB/T 6571-1995半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管；

机构所在地：北京市 更多相关信息>>