中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出短路电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：输出短路电流 检测样品：数字集成电路 标准：GJB597A-1996 《半导体集成电路总规范》 GB/T17574-1998 《半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路》

检测项：栅-源短路时的漏极电流 检测样品：场效应管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输出低电平电流IOL 检测样品：微电子器件 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：微波组件 标准：1、SJ 20527A-2003 微波组件通用规范 2、GJB 899A-2009 可靠性鉴定和验收试验 3、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：微波组件 标准：1、SJ 20527A-2003 微波组件通用规范 2、GJB 899A-2009 可靠性鉴定和验收试验 3、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法

检测项：短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：输出短路电流 检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备 标准：电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：输出短路电流 检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备 标准：(1)电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：短路电流 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件分立器件和集成电路 第2部分;整流二极管GB/T 4023-1997

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：输出短路电流 检测样品：数字集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路

检测项：输出短路电流 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：输出短路电流 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：输出短路电流(IOS) 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输出高阻态电流(IOZ) 检测样品：DC/DC变换器 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法　SJ20646-97

检测项：输出电流（IO） 检测样品：二极管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管　 GB/T4023-1997 半导体器件 分立器件 第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T6571-1995

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

检测项：输出短路电流 检测样品：电子产品、军用装备 标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Fc：振动（正弦）

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：电子产品、军用装备 标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Fc：振动（正弦）

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：电子产品、军用装备 标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Fc：振动（正弦）

机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出短路电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998 《半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理》SJ/T10741-2000

检测项：输出漏电流 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

检测项：输出高电平电流 检测样品：TTL集成电路 标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：输出短路电流Ios 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：漏--源短路时的栅极截止电流IGSS 检测样品：晶体二极管 标准：GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》

检测项：输出高电平电流IOH 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：输出短路电流 检测样品：运算 (电压)放大器 标准：半导体集成电路 运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996第2.1、2.3、2.5、2.6、2.7、2.8、2.11条

检测项：输出短路电流 检测样品：CMOS 集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的 基本原理 SJ/T10741－2000 第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16条

检测项：输出短路电流 检测样品：CMOS 集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的 基本原理 SJ/T10741－2000 第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16条

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>