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检测项:不带安全属性的用户数据输入 检测样品:安全集成电路(IC)卡芯片 标准:信息安全技术 具有中央处理器的集成电路(IC)卡芯片安全技术要求(评估保证级4增强级) GB/T 22186-2008
机构所在地:北京市
检测项:谐波电流 检测样品:医疗电气设备(EMC) 标准:电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)GB/T17625.1-2012
机构所在地:辽宁省沈阳市
检测项:辐射骚扰 检测样品:额定电流不大于16A的设备 标准:电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2003 IEC 61000-3-2:2009
检测项:谐波电流 检测样品:额定电流不大于16A的设备 标准:电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2003 IEC 61000-3-2:2009
检测项:辐射骚扰 检测样品:额定电流不大于16A的设备 标准:电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2003 IEC 61000-3-2:2009
机构所在地:广东省深圳市
检测项:输入电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输入高电平电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输入低电平电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
机构所在地:湖北省宜昌市