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检测项:射频电磁场 检测样品:照明设备 标准:GB/T 18595-2001, IEC 61547:2009, EN 61547:2009 一般照明用设备电磁兼容抗扰度要求
检测项:射频调幅电磁场 检测样品:工业环境中使用的电气和电子设备 标准:GB/T 17799.2-2003, EN 61000-6-2:2005, IEC 61000-6-2:2005 电磁兼容 通用标准 工业环境中的抗扰度试验
检测项:射频电磁场辐射抗扰度 检测样品:电工电器产品 标准:GB/T 17626.3-2006, IEC 61000-4-3:2006+A1:2007+A2:2010, EN61000-4-3:2006+A2:2010 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:振动试验 检测样品:电工电子产品 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动 GB/T2423.10-2008
机构所在地:江苏省昆山市 更多相关信息>>
检测项:正弦振动 检测样品:汽车产品和电子电气产品 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 Fc:振动(正弦) IEC 60068-2-6:2007
检测项:宽带随机振动 检测样品:汽车产品和电子电气产品 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fh:宽带随机振动 (数字控制) 和导则 IEC 60068-2-64:2008
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:振动试验 检测样品:电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准:微电子器件试验方法 方法2005振动疲劳 GJB548B-2005
检测项:振动试验 检测样品:电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准:军用装备实验室环境试验方法 第16部分振动试验 GJB 150.16A-2009
检测项:振动试验 检测样品:电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准:半导体分立器件试验方法 方法2056扫频振动试验方法 GJB128A-1197
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:危险的防护 检测样品:信息技术设备 标准:信息技术设备的安全 GB 4943.1-2011 IEC 60950-1:2005+A1:2009+A2:2013 EN 60950-1:2006+A11:2009+A1:2010+A12:2011+A2:2013
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:振动试验 检测样品:电工 电子 产品 环境 试验 标准:GB/T 2423.10-2008 电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Fc: 振动(正弦)
检测项:振动试验 检测样品:军用 电子 测试 设备 环境 试验 标准:GJB3947A-2009 军用电子测试设备通用规范
检测项:振动试验 检测样品:电子 测量 仪器 环境 试验 标准:GB6587.1~8-1986 电子测量仪器环境试验
检测项:温度/湿度/振动综合 试 验 检测样品:自动舵 标准:GB/T 2423.35-2005 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验
检测项:温度/湿度/振动综合 试 验 检测样品:计程仪 标准:GB/T 2423.35-2005 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验
检测项:温度/湿度/振动综合 试 验 检测样品:燃油净化装置 标准:GB/T 2423.35-2005 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AFc:散热和非散热试验样品的低温/振动(正弦)综合试验
机构所在地:天津市 更多相关信息>>
检测项:振动 检测样品:航空、航天、舰载、兵器、电子信息、民用产品 标准:《军用设备环境试验方法 振动试验》GJB150.16-1986
检测项:振动 检测样品:航空、航天、舰载、兵器、电子信息、民用产品 标准:《机载设备环境条件及试验方法 振动》 HB5830.5-1984
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:振动试验 检测样品:军工及民用电子、通讯、机械类设备 标准:军用设备环境试验方法 振动试验 GJB150.16-1986
检测项:振动试验 检测样品:军工及民用电子、通讯、机械类设备 标准:军用设备环境试验方法 飞机炮振试验 GJB150.20-1986
检测项:振动试验 检测样品:军工及民用电子、通讯、机械类设备 标准:军用装备实验室环境试验方法 第16部分 振动试验 GJB150.16A-2009
检测项:频率 检测样品:集成电路 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理SJ/T10805-2000 半导体集成电路模拟开关测试方法的基
检测项:最大时钟频率 检测样品:集成电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>