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结晶点(Crystalpoint)
结晶点指液体在冷却过程中，由液态转变为固态的相变温度。
结晶点测试方法：双套管法
结晶点测试仪器：结晶点测定仪
收起百科↑ 最近更新：2016年11月20日
检测项：汞(Hg) 检测样品：电子电器产品环境有害物质 标准：电工制品中特定物质的测定.第4部分:使用CV-AAS, CV-AFS, ICP- OES 和 ICP-MS测定聚合物、金属和电子材料中的汞
机构所在地：广东省东莞市
检测项：镉 检测样品：电子电器产品 标准：使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子材料中的汞 IEC 62321.4: 2013
机构所在地：广东省深圳市
检测项：汞 检测样品：电子电气产品 标准：使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS确定聚合物、金属和电子材料中的汞 IEC62321-5:2013
机构所在地：广东省深圳市
检测项：六价铬 检测样品：电子电气产品及原材料 标准：CV-AAS,CV-AFS,ICP-OES 和 ICP-MS 测试聚合物，金属和电子装置中的汞 IEC 62321-4：2013
机构所在地：浙江省义乌市
检测项：铅 检测样品：电子电气产品 标准：电子电气产品 六种限用物质（铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯和多溴二苯醚）的测定 GB/T 26125-2011 电子信息产品中有毒有害物质的检测方法 SJ/T
机构所在地：湖南省娄底市
检测项：铅、汞、铬、镉、溴 检测样品：电子电器产品 标准：IEC62321:2013-4 Ed1.0 使用CV-AAS、CV-AFS、ICP-OES和ICP-MS测试聚合物、金属和电子装置中的汞。
机构所在地：浙江省宁波市
检测项：汞 检测样品：塑料 标准：电子电气产品中的限用物质-第4部分：使用CV-AAS,CV-AFS,ICP-OES和ICP-MS测定聚合物、金属和电子部件中的汞 IEC 62321-4:2013
机构所在地：上海市
