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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:成分定量分析 检测样品:固体材料/液体材料 (环氧树脂) 标准:微束分析 能譜法定量分析 GB/T 17359-2012
检测项:外部检查 检测样品:发光二极管 (LED) 标准:微电路失效分析程序 MIL-STD-883J方法5003
检测项:光谱透射比(T) 检测样品:固体材料/液体材料 (环氧树脂) 标准:物体色的测量方法 GB/T 3979-2008
机构所在地:广东省惠州市 更多相关信息>>
检测项:六价铬 检测样品:土壤、底质、沉积物、固体废物、煤 标准:X-射线荧光光谱分析法 《土壤元素的近代分析方法》中国环境监测总站9.9.2
检测项:总砷 检测样品:土壤、底质、沉积物、固体废物、煤 标准:X-射线荧光光谱分析法 《土壤元素的近代分析方法》中国环境监测总站9.9.2
检测项:六六六 检测样品:土壤、底质、沉积物、固体废物、煤 标准:X-射线荧光光谱分析法 《土壤元素的近代分析方法》中国环境监测总站9.9.2
机构所在地:辽宁省大连市 更多相关信息>>
检测项:特定元素迁移(三价铬,六价铬) 检测样品:玩具 标准:玩具的安全性. 第3部分:某些特定元素的迁移 BS EN71-3:2013 玩具的安全性. 第3部分:某些特定元素的迁移 EN 71-3:2013 离子色谱法分析六价铬含量 EPA 1636:1996
检测项:铅、镉、汞、砷、六价铬含量 检测样品:饰品 标准:饰品 有害元素限量的规定 GB 28480-2012 饰品 有害元素的测定 X射线荧光光谱法 GB/T 28020-2011 饰品 有害元素的测定 光谱法 GB/T 28021-2011 饰品 六价铬的测定 二苯碳酰二肼分光光度法 GB/T 28019-2
检测项:可溶性铅 检测样品:食品接触材料 标准:样品表面擦拭的特定元素测试 NIOSH 9102 (2003)
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:砷 检测样品:木器表面涂层及木器涂料 标准:木材防腐剂与防腐处理后的木材的检测方法 第3部分:含铜、铬、砷成分的防腐剂溶液与防腐处理后木材的定量分析BS 5666.3-1991
检测项:氨基酸态氮 检测样品:酱 标准:酱卫生标准的分析方法 GB/T 5009.40-2003
检测项:氨基酸态氮 检测样品:酱油 标准:酱油卫生标准的分析方法 GB/T 5009.39-2003
机构所在地:广西壮族自治区南宁市 更多相关信息>>
检测项:功能 检测样品:模拟开关 标准:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-1992 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000;
检测项:静态漏-源通态电阻RDS 检测样品:场效应晶体管 标准:半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
检测项:静态参数 检测样品:采样/保持放大器 标准:半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理 GB/T 14115-1993 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理 SJ/T 10735-1996;
机构所在地:湖北省孝感市 更多相关信息>>
检测项:可溶性元素 检测样品:玩具 标准:玩具表面涂层中总铅含量的测定,GB/T 22788-2008
检测项:氨态氮 检测样品:肥料 标准:肥料中氨态氮含量的测定 甲醛法 GB/T 3600-2000
检测项:硝态氮 检测样品:肥料 标准:肥料中硝态氮含量的测定 紫外分光光度法 NY/T 1116-2006
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:电子探针和X射线能谱定量分析元素含量实验 检测样品:电子电气产品失效分析 标准:电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则 GB/T 17359-1998
检测项:电子探针和X射线能谱定量分析元素含量实验 检测样品:电子电气产品失效分析 标准:军用电子元器件破坏性物理分析方法 工作项目 1103 GJB 4027A-2006
检测项:六价铬 检测样品:电子电器产品中环境污染物 标准:锌、镉、铝-锌合金及锌-铝合金表面铬酸盐的转化镀层—测试方法 ISO 3613-2000E
机构所在地:江苏省吴江市 更多相关信息>>
检测项:能谱法定量分析 检测样品:固体材料表面及界面 标准:微束分析 能谱法定量分析 GB/T 17359-2012 ISO 22309-2006
检测项:六价铬 检测样品:水、废水 标准:水质 六价铬的测定 二苯碳酰二肼分光光度法GB/T 7467-1987
检测项:阴离子表面活性剂 检测样品:水、废水 标准:水质 阴离子表面活性剂的测定 亚甲蓝分光光度法 GB/T 7494-1987
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
检测项:静态漏-源通态电阻RDS(on) 检测样品:半导体集成电路时基电路 标准:GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出截至态电流IO(OFF) 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
机构所在地:北京市 更多相关信息>>