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检测项：输入偏置电流 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项：输入偏置电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项：输入失调电流 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：输入偏置电流IIB 检测样品：运算放大器 标准：《半导休集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》SJ/T 10738-1996
检测项：输入偏置电流IIB 检测样品：模拟开关 标准：《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》GB/T 14028-1992
检测项：输入偏置电流（误差放大器）IIB 检测样品：脉宽调制器 标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993
机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项：输入偏置电流IIb 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项：输入偏置电流IIb 检测样品：半导体集成电路采样/保持放大器 标准：GB/T14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
检测项：输入偏置电流Ib 检测样品：模拟乘法器 标准：GB/T 14029-1992 半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：输入偏置电流 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992
检测项：输入偏置电流 检测样品：电子元器件 标准：微电路试验方法和程序GJB 548B-2005
检测项：输入电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>
检测项：输入偏置电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000
检测项：输入偏置电流温度系数 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000
检测项：输入偏置电流 检测样品：RF器件 标准：半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000
检测项：输入偏置电流 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项：输入失调电流 检测样品：TTL电路 标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项：输入电流 检测样品：电子产品、军用装备 标准：GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验 Fc：振动（正弦）
机构所在地：云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项：输入偏置电流 检测样品：电压比较器 标准：SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项：输入偏置电流 检测样品：运算放大器 标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
检测项：输入失调电流 检测样品：电压比较器 标准：SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项：输入偏置电流 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996
检测项：输入电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：输入偏置电流IIB 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测项：偏置电流Ibias 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
检测项：模拟输入电流AI 检测样品：混合集成电路A/D、D/A变换器 标准：SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理
机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项：输入偏置电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项：输入失调电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项：输入高电平电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>
