信息技术设备中谐波电流的检测

检测项：谐波电流 检测样品：信息技术设备 标准：GB17625.1-2012 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)

检测机构：国家食品质量监督检验中心 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：输入失调电压（误差放大器）VIO 检测样品：脉宽调制器 标准：《半导体集成电路JW1524、1525、1525A、1526、1527、1527A)型脉宽调制器详细规范》SJ 20294-1993

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：运算放大器 标准：《半导休集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》SJ/T 10738-1996

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：电压比较器 标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》SJ/T 10805-2000

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：输入失调电压 VIO 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：QJ 2491-93 半导体集成电路运算放大器测试方法

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：运算放大器 标准：GB/T17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路》

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：电压比较器 标准：GB/T 6798－1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》

检测项：输入失调电流IIO 检测样品：运算放大器 标准：GB/T17940-2000 《半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

湖南航天管理局计量检测中心

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压） 放大器测试方法的基本原理

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压） 放大器测试方法的基本原理

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：半导体集成电路（运算放大器） 标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路 运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：半导体集成电路（电压比较器） 标准：1.SJ/T10805-2000半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路

检测项：输入偏置电流（同相）IIb+ 检测样品：半导体集成电路（运算放大器） 标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路 运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：电压比较器 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》

检测项：低压电气及电子设备发出的谐波电流限值(设备每相输入电流≤16A) 检测样品：工业、科学和医疗射频设备 标准：(1)GB/T17625.1-2003 (2)IEC 61000-3-2:2005 《电磁兼容 限值谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)》

检测项：直流电源输入端口纹波 检测样品：工业、科学和医疗射频设备 标准：GB/T 17626.17-2005/ IEC61000-4-17:2002 《电磁兼容试验和测量技术—直流电源输入端口纹波抗扰度试验》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：A/D、D/A转换器 标准：半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996

检测项：短路电流 检测样品：运算 放大器 标准：半导体集成电路运算放大器测试方法基本原理 SJ/T10738-1996

检测项：输入电流 检测样品： 标准：

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：输入失调电压 检测样品：运算(电压)放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

检测项：输入失调电压 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996

检测项：输入低电平 电压 检测样品：运算(电压)放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入放大器的偏置电压 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

检测项：差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入放大器的偏置电压 检测样品：RF器件 标准：半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

检测项：输入失调电压温度系数 检测样品：RF器件 标准：半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

机构所在地：上海市 更多相关信息>>