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检测项:输入失调电压 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-96 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:输入失调电压 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-96 《半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理》
检测项:输入失调电压 检测样品:半导体集成电路电压比较器 标准:GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省连云港市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电压 检测样品:运算 (电压)放大器 标准:半导体集成电路 运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996第2.1、2.3、2.5、2.6、2.7、2.8、2.11条
检测项:输入失调电压 检测样品:电压 比较器 标准:半导体集成电路 电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996 第4.1、4.3、4.5、4.7、4.8、4.9、4.11、4.13、4.14、4.15、4.16条
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电压 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:输入失调电压 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项:电源电流 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:输入失调电压 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988
检测项:输入失调电流 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电压 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:输入失调电压 检测样品:电压比较器 标准:GJB360B-2009 电子及电气元件试验方法 方法101;
检测项:输入失调电压 检测样品:电压比较器 标准:GB2423.17-2008电工电子产品基本环境试验规程试验Ka:盐雾试验方法。
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电压 检测样品:电压比较器、运算放大器 标准:《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件 集成电路第3部分:模拟集成电路》GB/T17940-2000
检测项:输入高电平电流 检测样品:电压比较器、运算放大器 标准:《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件 集成电路第3部分:模拟集成电路》GB/T17940-2000
检测项:输入低电平电流 检测样品:电压比较器、运算放大器 标准:《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件 集成电路第3部分:模拟集成电路》GB/T17940-2000
机构所在地:江苏省扬州市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电压VOS 检测样品:半导体集成电路 (运算放大器、电压比较器) 标准:1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分 总则
检测项:低电平输入电流IIL 检测样品:微波组件 标准:1、SJ 20527A-2003 微波组件通用规范 2、GJB 899A-2009 可靠性鉴定和验收试验 3、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法
机构所在地:河北省石家庄市 更多相关信息>>
检测项:频率误差 检测样品:射频微波放大器 标准:《移动通信射频功率放大器通用规范》 SJ 20732—1999 《微波宽带放大器通用规范》 SJ 20427—1994
检测项:调制精度 检测样品:射频微波放大器 标准:《移动通信射频功率放大器通用规范》 SJ 20732—1999 《微波宽带放大器通用规范》 SJ 20427—1994
检测项:邻道功率 检测样品:射频微波放大器 标准:《移动通信射频功率放大器通用规范》 SJ 20732—1999 《微波宽带放大器通用规范》 SJ 20427—1994
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电压 检测样品:集成运放 电路 标准:可靠性鉴定和验收试验GJB899-2009
检测项:输入失调电压 检测样品:集成运放 电路 标准:半导体器件集成电路;第3部分:模拟集成电路 GB/T17940-2000
检测项:输入失调电流 检测样品:数字集成 电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地:甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电压 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:输入高电平电流 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项:输入箝位电压 检测样品:模拟集成电路 标准:《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996