西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：输入失调电流 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996

检测项：输入失调电流 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996

检测项：输入失调电压 检测样品：运算(电压)放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：输入失调电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

检测项：输入失调电压 检测样品：集成运放 电路 标准：可靠性鉴定和验收试验GJB899-2009

检测项：输入失调电压 检测样品：集成运放 电路 标准：半导体器件集成电路；第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>

上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：输入失调电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

检测项：输入失调电压 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

检测项：输入高电平电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

成都凯天电子股份有限公司实验中心

检测项：输入失调电流 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996

检测项：输入失调电流 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996

检测项：输入失调电压 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路） 标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第

检测项：输入失调电流IIO 检测样品：半导体集成电路（稳压器） 标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范

检测项：输入失调电流IIO 检测样品：半导体集成电路（运算放大器） 标准：1.SJ/T10738-1996半导体集成电路 运算（电压）放大器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996半导体器件

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

东莞市冠准检测技术有限公司

检测项：多环芳香烃类（PAHs） 检测样品：电子电器产品中环境危害物质 标准：电子信息产品中有毒有害物质的检测方法 SJ/T IO11365-2006/第6部分

检测项：输入功率和电流 检测样品：家用和类似用途电器的安全第1部分：通用要求 标准：IEC 60335-1:2001+A1+A2, EN 60335-1:2002+A11+A1+A12+A2+A13+A14+A15, IEC 60335-1:2010, EN 60335-1:2012, GB 4706.1-2005《家用和类似用途电器的

检测项：接触电流和保护导体电流 检测样品：家用和类似用途电器的安全第1部分：通用要求 标准：IEC 60335-1:2001+A1+A2, EN 60335-1:2002+A11+A1+A12+A2+A13+A14+A15, IEC 60335-1:2010, EN 60335-1:2012, GB 4706.1-2005《家用和类似用途电器的

机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输入失调电流 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：输入失调电流 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

检测项：输入失调电流 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：输入失调电流IIO 检测样品：A/D、D/A转换器 标准：半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：A/D、D/A转换器 标准：半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996

检测项：输入电流 检测样品： 标准：

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：输入失调电流 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

检测项：输入失调电流温度系数 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

检测项：输入失调电压 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

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中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：输入失调电流 检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备 标准：电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：输入失调电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988

检测项：输入失调电压 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988

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