输入失调电流检测实验

检测项：输入失调电流检测样品：电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996

检测项：输入失调电流检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：输入失调电流检测样品：晶体三极管标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路第7部分:双极型晶体管

检测项：输入失调电流检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：GB/T6798-1996 《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》

北京振兴计量测试研究所

检测项：输入失调电流IIO 检测样品：A/D、D/A转换器标准：半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996

检测项：输入失调电压VIO 检测样品：A/D、D/A转换器标准：半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996

检测项：输入电流检测样品：标准：

机构所在地：北京市更多相关信息>>

检测项：输入失调电流检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

检测项：输入失调电流温度系数检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000

检测项：输入失调电流IIO 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》

检测项：输入失调电流检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：输入失调电流检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体集成电路运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988

检测项：输入失调电流(IOS) 检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

检测项：输入失调电流IIO 检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：输入失调电流IIO 检测样品：半导体集成电路电压比较器标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：输入失调电流检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996

检测项：输入失调电流检测样品：电压比较器、运算放大器标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000