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检测项:输入失调电流 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988
检测项:输入失调电压 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电流(IOS) 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体器件 集成电路第3部分:模拟集成电路 GB/T17940-2000
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检测项:输入偏置电流(IB) 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体器件 集成电路第3部分:模拟集成电路 GB/T17940-2000
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电压 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:输入失调电流 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992
检测项:输入失调电流 检测样品:电子元器件 标准:微电路试验方法和程序GJB 548B-2005
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
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机构所在地:江苏省扬州市 更多相关信息>>
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检测项:输入失调电压VOS 检测样品:半导体集成电路 (运算放大器、电压比较器) 标准:1、GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范 2、GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路 第1部分 总则
机构所在地:河北省石家庄市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电压 检测样品:运算(电压)放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:输入失调电流 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T6798-1996
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入放大器的偏置电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000
检测项:差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入放大器的偏置电压 检测样品:RF器件 标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000
检测项:输入失调电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电压 检测样品:半导体集成运算放大器 标准:SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:输入失调电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入偏置电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电压 检测样品:运算 (电压)放大器 标准:半导体集成电路 运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996第2.1、2.3、2.5、2.6、2.7、2.8、2.11条
检测项:输入失调电流 检测样品:时基 电路 标准:半导体集成电路 时基电路 测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条
检测项:输入失调电压 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-96 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:输入失调电压 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-96 《半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理》
检测项:输入失调电流 检测样品:半导体集成电路电压比较器 标准:GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省连云港市 更多相关信息>>