信息技术设备中谐波电流的检测

检测项：谐波电流 检测样品：信息技术设备 标准：GB17625.1-2012 电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A)

检测机构：国家食品质量监督检验中心 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：DAC数字输入高电平、数字输入低电平电压、数字输入高电平电流、数字输入低电平电流、基准电压 检测样品：集成电路A/D和D/A转换器 标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

检测项：ADC数字输入高电平、数字输入低电平电压、数字输入高电平电流、数字输入低电平电流 检测样品：集成电路A/D和D/A转换器 标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

检测项：ADC数字输出高电平、数字输出低电平电压 检测样品：集成电路A/D和D/A转换器 标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：功能 检测样品：电平转换器 标准：半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理 SJ/T 10804-2000

检测项：静态参数 检测样品：电平转换器 标准：半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理 SJ/T 10804-2000

检测项：动态参数 检测样品：电平转换器 标准：半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理 SJ/T 10804-2000

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：输入高电平电流和输入低电平电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

检测项：输入高电平电流和输入低电平电流 检测样品：RF器件 标准：半导体器件 集成电路 第2部分： 数字集成电路 GB/T 17574-1998

检测项：输入高电平电流和输入低电平电流 检测样品：FPGA现场可编程器件 标准：半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

山东省电子信息产品检验院（中国赛宝（山东）实验室、山东省网络与信息安全测评中心）

检测项：自动增益控制特性(当输出电平变化10dB时输入电平的变化)（AM） 检测样品：声音广播接收机 标准：声音广播接收机基本参数GB/T 9374-88

检测项：自动增益控制特性(当输出电平变化10dB时输入电平的变化)（AM） 检测样品：声音广播接收机 标准：声音广播接收机基本参数GB/T 9374-2012

检测项：自动增益控制特性(当输出电平变化10dB时输入电平的变化)（AM） 检测样品：声音广播接收机 标准：声音广播接收机基本参数GB/T 9374-2012

机构所在地：山东省济南市 更多相关信息>>

国家无线电监测中心检测中心/天维讯达无线电设备检测（北京）有限责任公司

检测项：最大输入电平 检测样品：蓝牙设备 标准：蓝牙HFP1.5测试规范 V1.5.10

检测项：EDR 最大输入电平 检测样品：蓝牙设备 标准：蓝牙PBAP测试规范 V1.0.5

检测项：高输入电平下的误码率 检测样品：无线寻呼系统 标准：GB/T15938-1995《无线寻呼系统设备总规范》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：输入低电平电压 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入高电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入低电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第三十六研究所计量测试中心

检测项：输入电平适应性 检测样品：干扰激励器 标准：GJB 3093-1997 通信干扰激励器通用规范

检测项：反向辐射电平 检测样品：数字式搜索 接收机 标准：GJB 4268-2001 通信对抗数字式搜索接收机通用规范

检测项：反向辐射电平 检测样品：功率放大器 标准：GJB3258-1998 功率放大器通用规范

机构所在地：浙江省嘉兴市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：数字集成电路 标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：数字集成电路 标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：输入电平适应范围 检测样品：微波器件 标准：GJB2650-1996微波元器件性能测试方法

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>