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检测项:输入高电平电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输入高电平电流 检测样品:半导体集成接口电路线电路 标准:SJ/T 10803-1996 半导体集成电路线电路测试方法的基本原理
检测项:输入高电平电流 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T 10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
机构所在地:湖北省宜昌市
检测项:输入高电平电流 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:GJB597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路
检测项:输入高电平电流 检测样品:数字集成电路 标准:GJB597A-1996 《半导体集成电路总规范》 GB/T17574-1998 《半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路》
检测项:输出高电平电压 检测样品:数字集成电路 标准:GJB597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分:数字集成电路
机构所在地:江苏省连云港市
检测项:线路输入最高电平 检测样品:调音台 标准:广播调音台电性能运行技术指标测量方法 GY/T76-1989, 电视中心播控系统数字播出通路技术指标和测量方法 GY/T165-2000
机构所在地:北京市
检测项:电压变化、电压波动和闪烁 检测样品:信息技术设备 标准:《电磁兼容 第3-2部分:限值-谐波电流辐射(每相输入电流≤16A) 》 IEC 61000-3-2:2009
机构所在地:上海市
机构所在地:湖南省株洲市