输入高电平电流和输入低电平电流检测实验

生殖和发育毒性

简介

YY/T 1292.1-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第1部分：筛选试验 YY/T 1292.2-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第2部分：胚胎发育毒性试验 YY/T 1292.3-2016医疗器械生殖和发育毒性试验第3部分：一代生殖毒性试验 YY/T 1292.4-2017医疗器械生殖和发育毒性试验第4部分：两代生殖毒性试验查看详情>>

生殖和发育毒性

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YY/T 1292.1-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第1部分：筛选试验
YY/T 1292.2-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第2部分：胚胎发育毒性试验
YY/T 1292.3-2016医疗器械生殖和发育毒性试验第3部分：一代生殖毒性试验
YY/T 1292.4-2017医疗器械生殖和发育毒性试验第4部分：两代生殖毒性试验

检测项目

收起百科↑ 最近更新：2022年04月19日

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浙江省计量科学研究院/浙江省方正校准有限公司

检测项：谐波电流检测样品：家用电器、电动工具和类似器具（EMC）标准：电磁兼容限值谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2003 电磁兼容(EMC) 第3-2部分：限值谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A IEC 61000-3-2: 2009

检测项：谐波电流检测样品：电工电子类产品（EMC）标准：电磁兼容限值谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2003 电磁兼容(EMC) 第3-2部分：限值谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A IEC 61000-3-2: 2009

检测项：部分项目检测样品：数字温度指示调节（控制）仪标准：工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示仪 GB/T 13639-2008 工业过程测量和控制系统用模拟输入数字式指示控制仪 JB/T 8386.1～2-1996

机构所在地：浙江省杭州市更多相关信息>>

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中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：输入高电平电流检测样品：数字集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路

检测项：输入低电平电流检测样品：数字集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路

检测项：输入高电平电流检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

机构所在地：上海市更多相关信息>>

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陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：输入高电平电流(IIH) 检测样品：半导体集成电路数字集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输入低电平电流（IIL）检测样品：半导体集成电路数字集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输入电流（II）检测样品：二极管标准：半导体器件分立器件和集成电路第2部分：整流二极管　 GB/T4023-1997 半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T6571-1995

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湖南航天管理局计量检测中心

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

机构所在地：湖南省长沙市更多相关信息>>

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北京尊冠科技有限公司

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路、CMOS电路标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路第 2 部分数字集成电路》

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路第 2 部分数字集成电路》

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路第 2 部分数字集成电路》

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宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：输入高电平电流检测样品：半导体集成接口电路线电路标准：SJ/T 10803-1996 半导体集成电路线电路测试方法的基本原理

检测项：输入高电平电流检测样品：半导体集成接口电路线电路标准：SJ/T 10803-1996 半导体集成电路线电路测试方法的基本原理

检测项：输入高电平电流检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

机构所在地：湖北省宜昌市更多相关信息>>

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中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输入高电平电流检测样品：TTL集成电路标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998

检测项：输入低电平电流检测样品：TTL集成电路标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998

检测项：输入高电平电流检测样品：电压比较器、运算放大器标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

机构所在地：江苏省扬州市更多相关信息>>

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中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

机构所在地：河南省郑州市更多相关信息>>

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天津市计量监督检测科学研究院（天津市电磁兼容检测中心）

检测项：谐波电流发射检测样品：工业、科学和医疗设备标准：电磁兼容限值谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A）

检测项：谐波电流发射检测样品：电子和电气设备标准：电磁兼容限值谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） GB 17625.1-2

检测项：骚扰电压检测样品：工业、科学和医疗设备标准：电磁兼容限值谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A）

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北京市电子产品质量检测中心

检测项：谐波电流发射试验检测样品：电磁兼容电气和电子设备标准：电磁兼容限值谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） GB 17625.1—2012

检测项：输入功率和电流检测样品：家用和类似用途电器标准：家用和类似用途电器的安全第1部分：通用要求 GB 4706.1—2005

检测项：直流电流最大输入电流检测样品：电子式水处理器标准：电子式水处理器技术条件 HG/T 3133—2006

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陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

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北京尊冠科技有限公司

宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

天津市计量监督检测科学研究院（天津市电磁兼容检测中心）

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