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收起百科↑ 最近更新:2023年06月05日
检测项:输出高电平时电源电流 检测样品:电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项:输出低电平时电源电流 检测样品:电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项:输出高阻态时低电平电流 检测样品:电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输出电压漂移 检测样品:直流稳定电源 标准:微小型计算机系统设备用开关电源通用规范 GB/T14714-2008
检测项:供电系统及所连设备谐波、电压波动和闪烁 检测样品:电子和电气产品、信息设备、军用设备 标准:电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A )
检测项:输出电压 检测样品:频率标准 标准:石英晶体振荡器测试方法 SJ/T10638-1995
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:最大输出电流IDM 检测样品:三端稳压电源(电压调整器) 标准:GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项:最大输出电流 IDM 检测样品:三端稳压电源(电压调整器) 标准:GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项:输出峰-峰值电压VOPP 检测样品:三端稳压电源(电压调整器) 标准:GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项:输出高阻态时低电平电流 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平 电流 检测样品:运算(电压)放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:输出低电平 电流 检测样品:运算(电压)放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:运算(电压)放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:高电平输出电流IOH 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:低电平输出电流IOL 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理》
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:输出电流调整率 检测样品:半导体集成电路电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:输出电流 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996
检测项:输出电压 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996
检测项:输入偏置电流 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理GB/T6798-1996
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输出电压 检测样品:电压调整器 标准:《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》GB/T4377-1996
检测项:输出高电平电流 检测样品:电压比较器、运算放大器 标准:《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件 集成电路第3部分:模拟集成电路》GB/T17940-2000
检测项:输出低电平电流 检测样品:电压比较器、运算放大器 标准:《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件 集成电路第3部分:模拟集成电路》GB/T17940-2000
机构所在地:江苏省扬州市 更多相关信息>>
检测项:输出电压长期稳定性 检测样品:半导体集成电路电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项:高电平输出电流 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项:低电平输出电流 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000