输出电压和电流检测实验

生殖和发育毒性

简介

YY/T 1292.1-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第1部分：筛选试验 YY/T 1292.2-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第2部分：胚胎发育毒性试验 YY/T 1292.3-2016医疗器械生殖和发育毒性试验第3部分：一代生殖毒性试验 YY/T 1292.4-2017医疗器械生殖和发育毒性试验第4部分：两代生殖毒性试验查看详情>>

生殖和发育毒性

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YY/T 1292.1-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第1部分：筛选试验
YY/T 1292.2-2015医疗器械生殖和发育毒性试验第2部分：胚胎发育毒性试验
YY/T 1292.3-2016医疗器械生殖和发育毒性试验第3部分：一代生殖毒性试验
YY/T 1292.4-2017医疗器械生殖和发育毒性试验第4部分：两代生殖毒性试验

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生殖和发育毒性
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收起百科↑ 最近更新：2022年04月19日

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湖南省计量检测研究院

检测项：电压变化、电压波动和闪烁检测样品：家用电器、电动工具和类似器具（EMC）标准：GB 17625.2-2007 电磁兼容限值对每相额定电流≤16 A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制

检测项：基本误差检测样品：交直流电压表、电流表、功率表标准：GB/T7676.1-1998 直流作用模拟指示电测量仪表及其附件第一部分：定义和通用要求 GB/T7676.2-1998 直接作用模拟指示电测量仪表及其附件第2部分:电流表和电压表的特殊要求 GB/T767

检测项：谐波电流检测样品：家用电器、电动工具和类似器具（EMC）标准：GB 17625.1-2012 电磁兼容限值谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A）

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：输出高电平电流IOH 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：模拟集成电路标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：输出高阻态时低电平电流检测样品：运算 (电压)放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996第2.1、2.3、2.5、2.6、2.7、2.8、2.11条

检测项：输出短路电流检测样品：运算 (电压)放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996第2.1、2.3、2.5、2.6、2.7、2.8、2.11条

检测项：输出电流检测样品：电阻标准：电子设备用固定电阻器总规范 GB/T5729-2003 第4.5条

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中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：输出高电平电压检测样品：数字集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路

检测项：输出短路电流检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：输出短路电流检测样品：模拟集成电路标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

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中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：输出高电平电流IOH 检测样品：模拟/混合集成电路标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路第3部分模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：输出短路电流Ios 检测样品：模拟/混合集成电路标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路第3部分模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：输出低电平电流IOL 检测样品：模拟/混合集成电路标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路第3部分模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

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中国舰船研究设计中心检测校准实验室

检测项：10kHz~40GHz天线谐波和乱真输出辐射发射RE103 检测样品：军用设备和分系统标准：Q/701J352-2010《地电流测试方法》

检测项：10kHz~40GHz天线谐波和乱真输出辐射发射RE103 检测样品：军用设备和分系统标准：《地电流测试方法》 Q/701J352-2010

检测项：电压变化、电压波动和闪烁检测样品：声音和广播电视设备标准：《电磁兼容限值对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制》 GB17625.2-2007/IEC61000-3-3:2005

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贵州振华群英电器有限公司试验检测中心

检测项：输出漏电流检测样品：混合和固体延时继电器标准：《混合和固体延时继电器总规范》 GJB1513A-2009

检测项：中等电流检测样品：混合和固体延时继电器标准：《混合和固体延时继电器总规范》 GJB1513A-2009

检测项：连续电流检测样品：混合和固体延时继电器标准：《混合和固体延时继电器总规范》 GJB1513A-2009

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中国汽车工程研究院股份有限公司检测中心

检测项：电压变化、电压波动和闪烁检测样品：混合动力、电动汽车标准：GB 17625.2-2007 电磁兼容限值对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公共低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制

检测项：电压变化、电压波动和闪烁检测样品：混合动力、电动汽车标准：GB 17625.1-2012 电磁兼容限值谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A )

检测项：电压变化、电压波动和闪烁检测样品：混合动力、电动汽车标准：GB 17625.1-2012 电磁兼容限值谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A )

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中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：截止态漏极漏电流检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理　GB/T14114-1993

检测项：截止态源极漏电流检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理　GB/T14114-1993

检测项：导通态漏电流检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理　GB/T14114-1993

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中国电工仪器仪表质量监督检验中心

检测项：被测功率的电压和电流分量的频率检测样品：标准：

检测项：辅助电源电压引起的改变量试验检测样品：电流表、电压表标准：（1）GB/T7676.1-1998《直接作用模拟指示电测量仪表及其附件第一部分：定义和通用要求》

检测项：辅助电源电压引起的改变量试验检测样品：电流表、电压表标准：（1）GB/T7676.1-1998《直接作用模拟指示电测量仪表及其附件第一部分：定义和通用要求》

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