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检测项:输出电压VO 检测样品:半导体集成电路(稳压器) 标准:1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
检测项:输出高电平VO H 检测样品:半导体集成电路(数字集成电路) 标准:1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第
检测项:输出高电平电压Voh 检测样品:半导体集成电路(稳压器) 标准:1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:源电压阶跃时输出电压最大过冲幅值 检测样品:稳压 电源※ 标准:抗干扰型交流稳压电源测试方法 SJ/T 10542-1994
检测项:负载阶跃时输出电压最大过冲幅值 检测样品:稳压 电源※ 标准:抗干扰型交流稳压电源测试方法 SJ/T 10542-1994
检测项:输出电压/ 输出频率 检测样品:通信用不间断电源(UPS)※ 标准:通信用不间断电源(UPS) YD/T 1095-2008
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:输出电压 检测样品:三端稳压电源(电压调整器) 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:摆幅 检测样品:接触式手持数字转速表 标准:接触式手持数字转速表 JB/T 5221-1991
检测项:电压校准功能最大输出电流 检测样品:多功能标准源 标准:数字多用表校准仪通用技术条件 GB/T15637-1995
检测项:6H摆幅 检测样品:机械闹钟 标准:机械闹钟 GB/T 22774-2008
检测项:电压范围 检测样品:钟表 防磁手表 标准:钟表 防磁手表 ISO 764:2002
检测项:电压系数 检测样品:钟表 防磁手表 标准:钟表 防磁手表 ISO 764:2002
检测项:差分放大器的电压Vo 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:功能及部分电参数测试 检测样品:集成电路: (TTL、CMOS、A/D、D/A、存储器、接口、运放、比较器、集成稳压器、电压基准等) 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005中4.5节及产品手册要求
检测项:电功率老化 检测样品:集成电路: (TTL、CMOS、A/D、D/A、存储器、接口、运放、比较器、集成稳压器、电压基准等) 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548A-96中方法1015A
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:标称电压VO 检测样品:DC-DC电源变换器 标准:《遥测系统及分系统测试方法 DC-DC电源变换器性能参数和测试方法》GJB 383.10-1988
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:电压比较器 标准:《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》SJ/T 10805-2000
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:电压比较器 标准:《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》SJ/T 10805-2000
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:电压幅值 检测样品:光线示波器 标准:CEST/CAL/GF077-2003光线示波器检测规范JB/T9304-1999光线示波器
检测项:电压幅值 检测样品:光线示波器 标准:CEST/CAL/GF077-2003
检测项:交流电压 检测样品:荧光灯/镇流器输入输出特性测试仪 标准:CEST/CAL/GF062-2010荧光灯/镇流器输入输出特性测试仪检测规范
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:部分参数 检测样品:电压调整器 标准:半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
检测项:部分参数 检测样品:运算(电压)放大器 标准:半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:部分参数 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 J/T 10805-2000
机构所在地:湖北省孝感市 更多相关信息>>