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检测项：输出高电平电压 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项：输出低电平电压 检测样品：运算放大器 标准：半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项：输出高电平时电源电流 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：输出电压 检测样品：耐压测试仪 标准：SJ/T11384-2008耐电压测试仪通用规范
检测项：交流输出电压频率 检测样品：耐压测试仪 标准：SJ/T11384-2008耐电压测试仪通用规范
检测项：交流输出电压失真 检测样品：耐压测试仪 标准：SJ/T11384-2008耐电压测试仪通用规范
机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项：输出短路电流 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项：输出高电平电压 检测样品：运算放大器 标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
检测项：输出低电平电压 检测样品：运算放大器 标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项：输出电压转换速率 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项：输出电流调整率 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项：输出峰-峰值电压 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项：输出峰-峰值电压 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》
检测项：输出短路电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理
机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>
检测项：输出电压温度系数 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996
检测项：输出电压长期稳定性 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996
检测项：输出噪声电压 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：输出峰峰电压(VO+,VO-) 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996
检测项：输出电压 （VO） 检测样品：半导体集成电路电压调整器 标准：半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理 GB/T4377-1996
检测项：输出电压（VO） 检测样品：DC/DC变换器 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ20646-97
检测项：电压特性 检测样品：大电容标准 标准：标准电容器 GB/T 9090-1988
检测项：最大输出电压 检测样品：超低频精密移相器 标准：中低频相位测试方法 QJ 2941-1997
检测项：输出噪声 检测样品：通用计数器 标准：电子测量仪器通用规范 GB/T 6587–2012
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：全部项目 检测样品：神经和肌肉刺激器 标准：神经和肌肉刺激器输出特性的测量YY/T 0696-2008
检测项：全部项目 检测样品：体外诊断（IVD）医用设备 标准：神经和肌肉刺激器输出特性的测量 YY/T 0696-2008
检测项：全部项目 检测样品：超声诊断设备（声输出功率） 标准：超声诊断声输出功率测量方法YY/T 1084-2007
检测项：输出幅度特性 检测样品：低频信号 发生器 标准：低频信号发生器通用技术条件 GB 12181-1990
检测项：载波输出幅度特性 检测样品：脉冲信号 发生器 标准：脉冲信号发生器技术条件 GB 9317-1988
检测项：输出功率特性 检测样品：微波信号 发生器 标准：微波信号发生器技术条件SJ 2524-1984微波信号发生器测试方法SJ 2525-1984
机构所在地：安徽省蚌埠市 更多相关信息>>
