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检测项：高电平输出电流 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
检测项：低电平输出电流 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
检测项：输出电流 检测样品：混合集成电路 标准：混合集成电路DC/DC变换器 测试方法 SJ20646-1997
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：输出短路电流IOS 检测样品：ECL电路 标准：SJ/T10737-1996《半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理》
检测项：输出电流IO 检测样品：DC／DC变换器 标准：SJ 20646-1997《混合集成电路DC／DC变换器测试方法》
检测项：高电平输出电流IOH 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：直流输出电流指示 检测样品：电源箱 标准：工业过程测量和控制系统用电动仪表通用技术条件 GB/T2613-2008
检测项：输出电压范围 检测样品：电流变送器 标准：交流电量转换为模拟量或数字信号的电测量变送器 GB/T13850-1998
检测项：负载变化对输出影响 检测样品：电流变送器 标准：交流电量转换为模拟量或数字信号的电测量变送器 GB/T13850-1998
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项：输出电流 检测样品：耐压测试仪 标准：SJ/T11384-2008耐电压测试仪通用规范
检测项：输出电流 检测样品：接地导通电阻测试仪 标准：SJ/T 11386-2008接地导通电阻测试仪通用规范
检测项：输出电流波动 检测样品：接地导通电阻测试仪 标准：SJ/T 11386-2008接地导通电阻测试仪通用规范
机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项：输出电流峰值系数 检测样品：人民币鉴别仪※ 标准：人民币鉴别仪 通用技术条件 GB 16999-2010
检测项：输出电压/ 输出频率 检测样品：通信用不间断电源（UPS）※ 标准：通信用不间断电源（UPS） YD/T 1095-2008
检测项：输入输出特性 检测样品：调幅 广播 收音机※ 标准：调幅广播收音机 测量方法 GB/T 2846-1988
机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项：电压校准功能最大输出电流 检测样品：多功能标准源 标准：数字多用表校准仪通用技术条件 GB/T15637-1995
检测项：电压校准功能最大输出电流 检测样品：示波器 标准：通用阴极射线示波器测试方法 GB 6585-1996
检测项：电流互感器 检测样品：失真度测量仪 标准：电流互感器GB 1208-2006
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：输出短路电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>
检测项：输出高电平电流 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3009.1
检测项：输出短路电流 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3005.1
检测项：输出短路电流 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3011.1
机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项：电流 检测样品：灯座连接安全性试验装置 标准：荧光灯/镇流器输入输出特性测试仪检测规范
检测项：交流电压 检测样品：荧光灯/镇流器输入输出特性测试仪 标准：CEST/CAL/GF062-2010荧光灯/镇流器输入输出特性测试仪检测规范
检测项：功率因数 检测样品：荧光灯/镇流器输入输出特性测试仪 标准：CEST/CAL/GF062-2010荧光灯/镇流器输入输出特性测试仪检测规范
机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>
检测项：电子单元在最大负荷下输出电流误差 检测样品：熔点仪 标准：《熔点测定仪》 JB/T 6177-1992
检测项：电子单元输出电流误差 检测样品：电导(率) 仪 标准：《电导率仪试验方法》 GB 11007-2008 《实验室电导率仪》 JB/T 9366-1999 《工业电导率仪》 JB/T 6855-1993
