中国舰船研究设计中心检测校准实验室

检测项：10kHz~40GHz天线谐波和乱真输出辐射发射RE103 检测样品：军用设备和分系统 标准：Q/701J352-2010《地电流测试方法》

检测项：10kHz~40GHz天线谐波和乱真输出辐射发射RE103 检测样品：军用设备和分系统 标准：《地电流测试方法》 Q/701J352-2010

检测项：电压变化、电压波动和闪烁 检测样品：声音和广播电视设备 标准：《电磁兼容限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制》 GB17625.2-2007/IEC61000-3-3:2005

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：最大输出电流IDM 检测样品：三端稳压电源（电压调整器） 标准：GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：高电平输出电流 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：低电平输出电流 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992

检测项：输出电流 检测样品：混合集成电路 标准：混合集成电路DC/DC变换器 测试方法　 SJ20646-1997

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：ECL电路 标准：SJ/T10737-1996《半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理》

检测项：输出电流IO 检测样品：DC／DC变换器 标准：SJ 20646-1997《混合集成电路DC／DC变换器测试方法》

检测项：高电平输出电流IOH 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

陕西省计量科学研究院

检测项：直流输出电流指示 检测样品：电源箱 标准：工业过程测量和控制系统用电动仪表通用技术条件 GB/T2613-2008

检测项：输出电压范围 检测样品：电流变送器 标准：交流电量转换为模拟量或数字信号的电测量变送器 GB/T13850-1998

检测项：负载变化对输出影响 检测样品：电流变送器 标准：交流电量转换为模拟量或数字信号的电测量变送器 GB/T13850-1998

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

深圳中航技术检测所

检测项：输出电流 检测样品：耐压测试仪 标准：SJ/T11384-2008耐电压测试仪通用规范

检测项：输出电流 检测样品：接地导通电阻测试仪 标准：SJ/T 11386-2008接地导通电阻测试仪通用规范

检测项：输出电流波动 检测样品：接地导通电阻测试仪 标准：SJ/T 11386-2008接地导通电阻测试仪通用规范

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

北京市计量检测科学研究院

检测项：电压校准功能最大输出电流 检测样品：多功能标准源 标准：数字多用表校准仪通用技术条件 GB/T15637-1995

检测项：电压校准功能最大输出电流 检测样品：示波器 标准：通用阴极射线示波器测试方法 GB 6585-1996

检测项：电流互感器 检测样品：失真度测量仪 标准：电流互感器GB 1208-2006

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：输出短路电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：输出高电平电流 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3009.1

检测项：输出短路电流 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3005.1

检测项：输出短路电流 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3011.1

机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>