运行电压下阻性电流测量检测实验

耐候性

简介

耐候性(Weatherability) 材料曝露在日光、冷热、风雨等气候条件下的耐受性。耐候性测试方法：自然气候、室外强化、实验室模拟耐候性测试仪器：紫外光耐气候试验箱查看详情>>

耐候性

简介

耐候性(Weatherability)

材料曝露在日光、冷热、风雨等气候条件下的耐受性。

耐候性测试方法：自然气候、室外强化、实验室模拟

耐候性测试仪器：紫外光耐气候试验箱

检测项目

耐候性

收起百科↑ 最近更新：2017年04月24日

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中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：正向阈值电压下的输入电流检测样品：电压调整器标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

检测项：负向阈值电压下的输入电流检测样品：电压调整器标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

检测项：输出高阻态时高电平电流检测样品：电压调整器标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

机构所在地：江苏省南京市更多相关信息>>

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中铁八局集团电务工程有限公司电气实验室

检测项：直流1mA电压及75%该电压下的泄漏电流检测样品：避雷器标准：GB 50150-2006《电气装置安装工程电气设备交接试验标准》

检测项：直流1mA电压及75%该电压下的泄漏电流检测样品：避雷器标准：DL 474.5-2006《现场绝缘试验实施导则避雷器试验》

检测项：直流1mA电压及75%该电压下的泄漏电流检测样品：避雷器标准：GB 50150-2006《电气装置安装工程电气设备交接试验标准》

机构所在地：四川省成都市更多相关信息>>

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北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：半导体集成电路 (TTL) 标准：半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输入低电平电流IIL 检测样品：半导体集成电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：电源电流IDD 检测样品：半导体集成电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

机构所在地：北京市更多相关信息>>

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北京市电子产品质量检测中心

检测项：电压下降及中断检测样品：电磁兼容工业、科学和医疗（ISM）射频设备标准：工业、科学和医疗（ISM）射频设备电磁骚扰特性限值和测量方法 GB 4824—2004

检测项：电压变化、电压波动和闪烁试验检测样品：电磁兼容 900/1800 TDMA 数字蜂窝通信系统移动台及其辅助设备标准：电磁兼容限值对每相额定电流≤16 A 且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2—2007

检测项：直流电压输入零电流检测样品：数字多用表标准：数字多用表通用技术条件 GB/T 13978—2008

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信华科技（深圳）有限公司

检测项：电压下降及中断检测样品：信息技术设备标准：信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法 GB 9254-2008 CISPR 22: 2008

检测项：电压波动和闪烁检测样品：电工电器产品（EMC）标准：电磁兼容限值对每相额定电流≤16A 且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2-2007 IEC 61000-3-3:2008 EN 61000-3-3:2008

检测项：电压波动和闪烁检测样品：电工电器产品标准：电磁兼容限值对每相额定电流≤16A 且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2-2007

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北京朗波尔光电股份有限公司检测中心

检测项：电压下降及中断检测样品：电子电气设备标准：电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验 GB/T 17626.2-2006

检测项：骚扰电压检测样品：电气照明和类似设备标准：电磁兼容限值谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB17625.1-2012

检测项：电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度检测样品：电子电气设备标准：电磁兼容试验和测量技术电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 GB/T 17626.11-2008

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陕西海泰电子有限责任公司电磁兼容实验室

检测项：电压下降及中断试验检测样品：电磁屏蔽室、半电波暗室标准：GB/T 12190-2006 《电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法》

检测项：大电流注入检测样品：电子电工产品、工业科学和医疗设备标准：GB/T17619-1998 《机动车电子电器组件的电磁辐射抗扰性限值和测量方法》

检测项：电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度检测样品：电子电工产品、工业科学和医疗设备标准：GB/T 17626.11-2008 《电磁兼容试验和测量技术电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验》

机构所在地：陕西省西安市更多相关信息>>

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国网河南省电力公司电力科学研究院

检测项：阻性电流和全电流测试检测样品：接地装置标准：接地装置特性参数测量导则 DL/T475-2006 电力设备预防性试验规程 DL/T596-1996 电气装置安装工程电气设备交接试验标准 GB50150-2006

检测项：阻性电流和全电流测试检测样品：接地装置标准：接地装置特性参数测量导则 DL/T475-2006 电力设备预防性试验规程 DL/T596-1996 电气装置安装工程电气设备交接试验标准 GB50150-2006

检测项：电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度检测样品：标准：电磁兼容试验和测量技术电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验GB/T17626.11―2008

机构所在地：河南省郑州市更多相关信息>>

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湖北省计量测试技术研究院

检测项：电压下将及中断检测样品：电气照明和类似设备（EMC）标准：电磁兼容限值谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB 17625.1-2003 电磁兼容限值谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) IEC 61000-3-2:2009

检测项：谐波电流、电压波动和闪烁检测样品：无绳电话（EMC）标准：无绳电话的电磁兼容性要求及测量方法 GB 19483-2004

检测项：接触电流检测样品：电工电子产品（接触电流）标准：接触电流和保护导体电流的测量方法 GB/T 12113-2003/ IEC 60990:1999

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中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：正向阈值电压下的输入电流IT+ 检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：负向阈值电压下的输入电流IT- 检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：SJ/T10741-2000《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

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中铁八局集团电务工程有限公司电气实验室

北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

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