绝缘栅双极晶体管(IGBT)中栅极－发射极阈值电压的检测

检测项：栅极－发射极阈值电压 检测样品：绝缘栅双极晶体管(IGBT) 标准：GB/T29332-2012/IEC60747-9Ed.2.0:20076.3.3 半导体器件 分立器件 第9部分：绝缘栅双极晶体管(IGBT)

检测机构：国家电子电器产品检测中心 更多相关信息>>

数字集成电路中滞后电压ΔVT的检测

检测项：滞后电压ΔVT 检测样品：数字集成电路 标准：《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》 SJ/T10741-2005

检测机构：国家机械电子产品环境与可靠性质量监督检验中心 更多相关信息>>

液晶显示器件中阈值电压和饱和电压的检测

检测项：阈值电压和饱和电压 检测样品：液晶显示器件 标准：液晶显示器件 第6-1部分：液晶显示器件测试方法 光电参数GB/T 18910.61-2012

检测机构：中国航天科技集团公司检测中心 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：同步阈值电压VT(S) 检测样品：脉宽调制器 标准：半导体集成电路开关电源脉宽调制器测试方法 QJ2660-1994

检测项：输入阈值电平电压VT(I) 检测样品：DC/DC电源模块 标准：混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997

检测项：栅-源阈值电压 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-1994

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：阈值电压VT 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：阈值电压VT 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：QJ 2491-93 半导体集成电路运算放大器测试方法

检测项：启动过冲VT0 检测样品：PWM脉宽调制电路 标准：SJ20294-1993 半导体集成电路JW1524-JW1527型脉宽调制器详细规范

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：阀值电压VT 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T14029-1992 《半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理》

检测项：滞后电压ΔVT 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：输入正向阈值电压VIT+ 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：通态电压（VT） 检测样品：晶闸管 标准：GB/T15291－94《半导体器件 第6部分 晶闸管》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：门极触发电流 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分晶闸管 GB/T 15291-1994

检测项：栅源阈值电压 检测样品：晶闸管 标准：半导体器件 第6部分晶闸管 GB/T 15291-1994

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

四川中核艾瑞特工程检测有限公司

检测项：目视检测（VT） 检测样品： 标准：压水堆核岛机械设备设计和建造规则RCC-M-2007第Ⅲ卷

机构所在地：四川省绵阳市 更多相关信息>>

武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：栅-源阈值电压VGS(TO) 检测样品：场效应管 标准：半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994

检测项：输出高电平阈值电压 检测样品：ECL电路 标准：半导体集成电路ECL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10737-1996

检测项：输出低电平阈值电压 检测样品：ECL电路 标准：半导体集成电路ECL电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10737-1996

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>