阻性电流检测实验

耐候性

简介

耐候性(Weatherability) 材料曝露在日光、冷热、风雨等气候条件下的耐受性。耐候性测试方法：自然气候、室外强化、实验室模拟耐候性测试仪器：紫外光耐气候试验箱查看详情>>

耐候性

简介

耐候性(Weatherability)

材料曝露在日光、冷热、风雨等气候条件下的耐受性。

耐候性测试方法：自然气候、室外强化、实验室模拟

耐候性测试仪器：紫外光耐气候试验箱

检测项目

耐候性

收起百科↑ 最近更新：2017年04月24日

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：TTL电路标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：TTL电路标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：运算放大器标准：《半导休集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》SJ/T 10738-1996

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上海精密计量测试研究所

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：输出高阻态时高电平电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输出高阻态时低电平电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输出高阻态时高电平电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

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北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：半导体集成电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：半导体集成电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：半导体集成电路 (TTL) 标准：半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

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上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：输出高阻态电流检测样品：RF器件标准：半导体器件集成电路第3部分：模拟集成电路 GB/T 17940-2000

检测项：输出高阻态电流检测样品：CMOS集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

检测项：输出高阻态电流检测样品：FPGA现场可编程器件标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

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西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：输出高阻态时高电平电流检测样品：CMOS集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输出高阻态时低电平电流检测样品：CMOS集成电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输出高阻态时高电平电流检测样品：运算(电压)放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

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上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：输出高阻态电流检测样品：模拟集成电路标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

检测项：输入高电平电流检测样品：模拟集成电路标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

检测项：输出短路电流检测样品：模拟集成电路标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996

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湖南航天管理局计量检测中心

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：DC/DC模块标准：SJ20646-1997 混合集成电路DC/DC变换器测试方法

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检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

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西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：输出高阻态时高电平电流检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出高阻态时低电平电流检测样品：半导体集成电路CMOS电路标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

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北京良华电力设备技术开发公司阻滤波器及变电设备质量检验测试中心

检测项：定子绕组对地电容电流测定检测样品：预装式变电站标准：《高压/低压预装式变电站》GB/T 17467-2010

检测项：主线圈品质因数测量检测样品：交流电力系统阻波器标准：《交流电力系统阻波器》GB/T7330-2008 《Line traps for a.c power systems》IEC 60353:1989 《高压电器设备无线电干扰测试方法》GB 11604-1989

检测项：保护元件泄漏电流检测样品：电力线载波结合设备标准：《电力线载波结合设备》GB/T7329-2008 《电力线载波结合设备》IEC 60481:1974

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上海无线电设备研究所环境与检测实验室

湖南航天管理局计量检测中心

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