限能电路检测实验

限束装置

简介

限束装置

简介

限束装置产品描述：通过限制X射线初级线束的几何形状以限制设备的辐射野。

限束装置预期用途：装配于X射线管组件的出线口处，限制X射线的辐射野。

限束装置品名举例：X射线限束器

限束装置管理类别：Ⅱ

限束装置相关指导原则：
1、含儿科应用的医用诊断X射线设备注册审查指导原则
2、医用诊断X射线管组件注册技术审查指导原则

限束装置相关标准：
1、 GB 9706.1-2007 医用电气设备第1部分：安全通用要求
2、 GB 9706.11-1997 医用电气设备第2部分：医用诊断X射线源组件和X射线管组件安全专用要求
3、 GB 9706.12-1997 医用电气设备第1部分：安全通用要求并列标准：诊断X射线设备辐射防护通用要求
4、 GB/T 10151—2008 医用X射线设备高压电缆插头、插座技术条件
5、 YY/T 0291-2016 医用X射线设备环境要求及试验方法
6、 YY/T 0609-2018 医用诊断X射线管组件通用技术条件

限束装置相关检测项目：
1 . 随机文件《放射治疗用多元限束装置性能和试验方法： YY/T0971-2016》
2 . 辐射野的数字指示《放射治疗用多元限束装置性能和试验方法： YY/T0971-2016》
3 . 辐射野的光野指示《放射治疗用多元限束装置性能和试验方法： YY/T0971-2016》
4 . 辐射野的重复性《放射治疗用多元限束装置性能和试验方法： YY/T0971-2016》
5 . 辐射野的半影《放射治疗用多元限束装置性能和试验方法： YY/T0971-2016》
6 . 限束装置辐射野中心与治疗机辐射束轴的一致性《放射治疗用多元限束装置性能和试验方法： YY/T0971-2016》
7 . 限束装置的运动性能《放射治疗用多元限束装置性能和试验方法： YY/T0971-2016》
8 . 辐射野的偏离《放射治疗用多元限束装置性能和试验方法： YY/T0971-2016》
9 . 泄漏辐射《放射治疗用多元限束装置性能和试验方法： YY/T0971-2016》
10 . 限束装置控制软件功能《放射治疗用多元限束装置性能和试验方法： YY/T0971-2016》

收起百科↑ 最近更新：2023年03月08日

搜索条件所在地区: 所属类别:

北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：老炼试验检测样品：半导体集成电路 (TTL) 标准：半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：半导体集成电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

检测项：输入正向阈值电压VIT+ 检测样品：半导体集成电路 (CMOS) 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：基准电压（VREF）检测样品：半导体集成电路数字集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：功能测试检测样品：半导体集成电路数字集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输出高电平电压（VOH）检测样品：半导体集成电路数字集成电路标准：半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

机构所在地：陕西省西安市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：输出高电平电压检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出低电平电压检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入电流检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

机构所在地：湖北省宜昌市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

检测项：输入失调电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：输入偏置电流检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：开环电压增益检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

机构所在地：湖北省武汉市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出漏电流检测样品：时基电路标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

检测项：静态功耗检测样品：时基电路标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

检测项：触发电流检测样品：时基电路标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992

机构所在地：江苏省扬州市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：内部观测特征检测样品：数字集成电路标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：数字集成电路标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：数字集成电路标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：静态参数检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：动态参数检测样品：CMOS电路标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：静态参数检测样品：线电路标准：半导体集成接口电路线电路测试方法的基本原理 SJ/T 10803-1996

机构所在地：湖北省孝感市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：电压调整率检测样品：TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996

检测项：电流调整率检测样品：TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996

检测项：消耗电流检测样品：TTL电路标准：半导体集成电路TTL电路测试方法 SJ/T 10735-1996

机构所在地：四川省成都市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

检测项：输入失调电流检测样品：TTL电路标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入偏置电流检测样品：TTL电路标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：开环电压增益检测样品：TTL电路标准：SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

机构所在地：云南省昆明市更多相关信息>>

我要咨询联系我们
中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：电源电流检测样品：ECL电路标准：SJ/T10737-1996半导体集成电路ECL电路测试方法的基本原理

检测项：输出高电平电压检测样品：TTL电路标准：SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出高电平阈值电压检测样品：TTL电路标准：SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

机构所在地：江苏省南京市更多相关信息>>

我要咨询联系我们

限束装置

简介

限束装置

简介

北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

武汉中原电子集团有限公司计量检测中心

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

云南昆船电子设备有限公司蓝海综合实验中心

中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

热点资讯MORE>

最新资讯MORE>

客户服务