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检测项:静态功耗PD 检测样品:A/D 、D/A转换器 标准:《半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法》 SJ/T 10818-1996
检测项:静态功耗PD 检测样品:模拟开关 标准:《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》GB/T 14028-1992
检测项:功耗ID 检测样品:时基电路 标准:《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992 《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:静态功耗PD 检测样品:三端稳压电源(电压调整器) 标准:GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项:静态功耗PD 检测样品:半导体集成电路采样/保持放大器 标准:GB/T14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
检测项:静态功耗PD 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:QJ 2491-93 半导体集成电路运算放大器测试方法
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:静态功耗PD 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:静态功耗PD 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-1996 半导体集成电路运算(电压) 放大器测试方法的基本原理
检测项:静态功耗PD 检测样品:半导体集成电路电压比较器 标准:GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:静态功耗PD 检测样品:电压比较器 标准:GB/T 6798-1996《半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理》
检测项:共发射极正向电流传输比的静态值(h21E) 检测样品:场效应晶 体管 标准:GB/T 4586-94《半导体器件 分立器件 第8部分:场效应晶体管》
检测项:静态条件下的电源电流ICC 检测样品:模拟开关/多路器系列集成电路 标准:GB/T14028-92《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:静态功耗PD 检测样品:半导体集成电路(稳压器) 标准:1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
检测项:静态功耗PD 检测样品:半导体集成电路(电压比较器) 标准:1.SJ/T10805-2000半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路
检测项:静态电流ID 检测样品:半导体集成电路(数字集成电路) 标准:1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第
检测项:功耗PD 检测样品:低频电连接器 标准:低频电连接器复验技术条件 Q/QJB 156-2008
检测项:静态接触电阻 检测样品:延时继电器 标准:混合和固体延时继电器总规范 GJB1513A-2009
检测项:静态电源电流IC 检测样品:A/D、D/A转换器 标准:半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996
检测项:功耗PD 检测样品:混合集成电路A/D、D/A变换器 标准:SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理
检测项:共发射极静态电流传输比HFE 检测样品:晶体三极管 标准:GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项:静态视频信号开机功耗 检测样品:电视机 标准:音视频产品和相关设备功耗的测量方法 IEC62087:2011 音视频产品和相关设备功耗的测量方法 IEC62087:2008
检测项:动态视频信号开机功耗 检测样品:电视机 标准:家用电气设备-待机功耗测量 IEC62301:2011 家用电气设备-待机功耗测量 IEC62301:2005
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:静态功耗 检测样品:黑白可视对讲系统 标准:黑白可视对讲系统GA/T 269-2001
机构所在地:福建省福州市 更多相关信息>>
检测项:静态功耗 检测样品:时基电路 标准:《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992
检测项:功能测试 检测样品:TTL集成电路 标准:《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路》GB/T17574-1998
检测项:输出高电平电流 检测样品:TTL集成电路 标准:《半导体器件集成电路第2部分:数字集成电路》GB/T17574-1998
机构所在地:江苏省扬州市 更多相关信息>>