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血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:高温寿命(非工作) 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997
检测项:静态参数 检测样品:MOS随机存储器 标准:半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T 10739-1996
机构所在地:湖北省孝感市
检测项:高温存贮试验 检测样品:智能建筑系统 信息网络系统 标准:智能建筑工程质量验收规范 GB50339-2003 计算机网络检测与评估DB37/T291-2000
检测项:高温存贮 检测样品:汽车行驶记录仪 标准:汽车行驶记录仪GB/T19056-2012
检测项:高温存贮 检测样品:智能建筑系统 信息网络系统 标准:智能建筑工程质量验收规范 GB50339-2003 计算机网络检测与评估DB37/T291-2000
机构所在地:山东省济南市
检测项:高温寿命试验 检测样品:电子及电气元件 标准:《电子及电气元件试验方法》GJB360B-2009
检测项:低电平负载切换寿命试验 检测样品:电子及电气元件 标准:《微电子器件试验方法》 GJB548B-2005
机构所在地:贵州省贵阳市
检测项:高温寿命试验 检测样品:半导体分立器件 标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
检测项:高温寿命(非工作) 检测样品:半导体分立器件 标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
机构所在地:湖北省武汉市