中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输入高电平电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：GJB597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T17574-1998 半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路

检测项：输入高电平电流 检测样品：数字集成电路 标准：GJB597A-1996 《半导体集成电路总规范》 GB/T17574-1998 《半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路》

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：输入高电平电压VIH 检测样品：数字集成电路 标准：SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》

检测项：输出高电平电流IOH 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：输入高电平电流IIH 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：输出高电平电流IOH 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199

检测项：模拟输入电流AI 检测样品：混合集成电路A/D、D/A变换器 标准：SJ 20961-2006集成电路A/D、D/A转换器测试方法的基本原理

机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：输入高电平电流 检测样品：TTL 集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的 基本原理 SJ/T10735－1996 第2.1、2.2、2.5、2.11、2.12、2.13、2.21、2.23、2.24、2.25、2.26、2.27条

检测项：输入高电平电流 检测样品：CMOS 集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的 基本原理 SJ/T10741－2000 第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16条

检测项：输入高电平电流 检测样品：CMOS 集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的 基本原理 SJ/T10741－2000 第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16条

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：高电平输入电流IIH 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路） 标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件 集成电路 第

检测项：输入失调电流IIO 检测样品：半导体集成电路（稳压器） 标准：1.GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范

检测项：输入电流II 检测样品：电子元器件（物理试验） 标准：1.GJB548B-2005微电子器件试验方法和程序,方法2009.1 2.GJB128A-1997半导体分立器件试验方法，方法2068，方法2071

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：高电平输入电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：极限高电平输入电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

国家广播电影电视总局电影技术质量检测所

检测项：线路输入最高电平 检测样品：调音台 标准：《广播调音台电性能运行技术指标测量方法》GY 76-1989

检测项：线路输出最高电平 检测样品：调音台 标准：《广播调音台电性能运行技术指标测量方法》GY 76-1989

检测项：传递介质数据输入接口 检测样品：数字电影放映系统 标准：《数字电影中档放映系统技术要求和测量方法》GY/T 256-2012

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

苏州市计量测试研究所

检测项：谐波电流 检测样品：电子、电气设备（EMC） 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB17625.1-2003 电磁兼容 第3-2部分：限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） IEC 61000

检测项：谐波电流 检测样品：电子、电气设备（EMC） 标准：电磁兼容 限值 谐波电流发射限值(设备每相输入电流≤16A) GB17625.1-2003 电磁兼容 第3-2部分：限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A） IEC 61000

检测项：电动机输入功率 检测样品：泵类及液体输送系统 标准：《泵类及液体输送系统节能监测方法》 GB/T 16666-1996

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：输入电流 检测样品： 标准：

检测项：输入偏置电流IIB 检测样品：A/D、D/A转换器 标准：半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996

检测项：输入失调电流IIO 检测样品：A/D、D/A转换器 标准：半导体集成非线性电路数字/模拟转换器和模拟/数字转换器测试方法的基本原理 SJ/T10818-1996

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：TTL电路 标准：《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：输出高电平电源电流ICCH 检测样品：CMOS电路 标准：《半导体集成电路CMOS 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10741-2000

检测项：输出高电平电流IOH 检测样品：运算放大器 标准：《半导休集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》SJ/T 10738-1996

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>