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样品名称：集成电路
检测项目：低到高电平输出的传输延迟时间
认可资质：CNAS CMA
检测标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
所属行业分类：电子电气 > 电子元件检测 >
标签： 低到高电平输出的传输延迟时间 集成电路
