整流二极管中正向直流电压的检测

检测项：正向直流电压 检测样品：整流二极管 标准：GB/T4023-2015/7.1.2 半导体器件 分立器件和集成电路第2部分：整流二极管

检测机构：国家电子电器产品检测中心 更多相关信息>>

氧化铝陶瓷中抗热震性的检测

检测项：抗热震性 检测样品：氧化铝陶瓷 标准：GB/T14619-2013 厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片

检测机构：国家材料分析检测中心 更多相关信息>>

模拟集成电路中失调电流Ios的检测

检测项：失调电流Ios 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB/T6798-1996 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》 GB3442-1986

检测机构：国家机械电子产品环境与可靠性质量监督检验中心 更多相关信息>>

半导体集成电路中内部目检的检测

检测项：内部目检 检测样品：半导体集成电路 标准：合格制造厂认证用半导体集成电路通用规范GJB7400-2011

检测机构：中国航天科技集团公司检测中心 更多相关信息>>

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：启动过冲 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

检测项：启动延迟 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

检测项：开关频率 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：输出短路电流 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：静态电源电流 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：输入箝位电压 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：输出电压温度系数ST 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇

检测项：输出噪声电压SNO 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇

检测项：短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路 （数字集成电路） 标准：GB/T 17574-1998 半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 第Ⅳ篇

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：基准电压 （VREF） 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：功能测试 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

检测项：输出高电平电压（VOH） 检测样品：半导体集成电路数字集成电路 标准：半导体器件 集成电路第2部分：数字集成电路 GB/T17574-1998

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：复位电流 检测样品：混合集成电路 标准：膜集成电路和混合膜集成电路 总规范 GB/T8976-1996

检测项：触发电压 检测样品：混合集成电路 标准：膜集成电路和混合膜集成电路 总规范 GB/T8976-1996

检测项：触发电流 检测样品：混合集成电路 标准：膜集成电路和混合膜集成电路 总规范 GB/T8976-1996

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：输入低电平电压VIL 检测样品：数字集成电路 标准：GB/T 17574-1998半导体器件集成电路 第2部分 数字集成电路

检测项：输入钳位电压VIK 检测样品：数字集成电路 标准：GB/T 17574-1998半导体器件集成电路 第2部分 数字集成电路

检测项：输入正向阈值电压VIT+ 检测样品：数字集成电路 标准：GB/T 17574-1998半导体器件集成电路 第2部分 数字集成电路

机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>