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中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心
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样品名称：电子元器件
检测项目：芯片附着 强度
认可资质：CNAS CMA
检测标准：引线键合剪切测试方法EIA/JESD22-B116A-2009
所属行业分类：电子电气 > 环境试验 >
标签： 芯片附着 强度 电子元器件
