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中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心
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样品名称：半导体 集成电路
检测项目：热冲击
认可资质：CNAS CMA
检测标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548A-1996 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006
所属行业分类：
标签： 热冲击 半导体 集成电路
