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中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心
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样品名称：半导体 集成电路外壳
检测项目：绝缘电阻
认可资质：CNAS CMA
检测标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法1003
所属行业分类：电子电气 > 电子元件检测 >
标签： 绝缘电阻 半导体 集成电路外壳
