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混合集成电路中发射极—基极击穿电压检测

  • 样品名称:混合集成电路

  • 检测项目:发射极—基极击穿电压

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

  • 所属行业分类:电子电气 > 电子元件检测 >

  • 标签: 发射极—基极击穿电压 混合集成电路

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