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北京光华无线电厂检测试验中心
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样品名称:塑封半导体集成电路
检测项目:外部目检
认可资质:CNAS CMA
检测标准:军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027-2006
所属行业分类:电子电气 > 电子元件检测 >
标签: 外部目检 塑封半导体集成电路