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密封半导体集成电路中外部目检检测

  • 样品名称:密封半导体集成电路

  • 检测项目:外部目检

  • 认可资质:CNAS CMA

  • 检测标准:军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB4027-2006

  • 所属行业分类:电子电气 > 电子元件检测 >

  • 标签: 外部目检 密封半导体集成电路

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