国家材料分析检测中心
刘工
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第三方商业检测机构
北京市
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样品名称：微电子材料
检测项目：硅外延层厚度
认可资质：其它
检测标准：GB/T14847-2010 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法
服务地点：北京市
适用范围：材料分析
标签： 微电子材料 硅外延层厚度 GB/T14847-2010 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法
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