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微电子材料中硅外延层、扩散层和离子注入层薄层的电阻检测

  • 样品名称:微电子材料

  • 检测项目:硅外延层、扩散层和离子注入层薄层的电阻

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:GB/T14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法

  • 服务地点:北京市

  • 适用范围:材料分析

  • 标签: 微电子材料 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层的电阻 GB/T14141-2009 硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法

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