国家材料分析检测中心
刘工
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北京市
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样品名称：锑化铟单晶片
检测项目：抛光片厚度
认可资质：其它
检测标准：SJ20640-1997 红外探测器用锑化铟单晶片规范
服务地点：北京市
适用范围：材料分析
标签： 锑化铟单晶片 抛光片厚度 SJ20640-1997 红外探测器用锑化铟单晶片规范
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