国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称：密封半导体集成电路
检测项目：X射线检查
认可资质：CNAS
检测标准：军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006
服务地点：全国
适用范围：电子电气
标签： 密封半导体集成电路 X射线检查 军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006
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