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密封半导体集成电路中X射线检查检测

  • 样品名称:密封半导体集成电路

  • 检测项目:X射线检查

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2012.1

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 密封半导体集成电路 X射线检查 微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 方法2012.1

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