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密封半导体集成电路中扫描电子显微镜检查检测

  • 样品名称:密封半导体集成电路

  • 检测项目:扫描电子显微镜检查

  • 认可资质:CNAS

  • 检测标准:军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 密封半导体集成电路 扫描电子显微镜检查 军用电子元器件破坏性物理分析方法GJB4027A-2006

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