国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称：半导体分立器件寿命评价试验
检测项目：高温寿命试验
认可资质：CNAS
检测标准：GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法方法1031 1032
服务地点：全国
适用范围：电子电气
标签： 半导体分立器件寿命评价试验 高温寿命试验 GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法方法1031 1032
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