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汽车电子用多芯片组件中早期寿命失效率检测

  • 样品名称:汽车电子用多芯片组件

  • 检测项目:早期寿命失效率

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:基于失效机理的汽车用多芯片组件(MCM)应力试验鉴定 AEC-Q104-Rev-2017 表1 B2

  • 服务地点:全国

  • 适用范围:电子电气

  • 标签: 汽车电子用多芯片组件 早期寿命失效率 基于失效机理的汽车用多芯片组件(MCM)应力试验鉴定 AEC-Q104-Rev-2017 表1 B2

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